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J-GLOBAL ID：200903056210586386

寸法測定装置

Inventor： 宇山 喜一郎 ,  藤井 正司 ,  西出 明彦
Applicant, Patent owner： 株式会社東芝
Agent (1)： 三好 秀和 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994035054
Publication number (International publication number)：1995243833
Application date： Mar. 04, 1994
Publication date： Sep. 19, 1995
Summary：

【要約】【目的】 表示された画像の測定する所望の範囲の寸法を高い精度で正確に測定可能な寸法測定装置を提供すること。【構成】 濃淡値を有するディジタル画像上の1つの線分上のプロフィールから対象物の寸法を測定する寸法測定装置において、予め測定する寸法が計測されていてこれを入力する手段と、この測定する寸法が予め計測されている基準物体のプロフィールから前記予め計測されている寸法に基づいて寸法測定実行メニュー内の測定法に応じて寸法測定用較正パラメータを求めてこれを登録する手段と、これから寸法を測定する物体のプロフィールを表示する手段と、前記寸法測定実行メニュー内の測定法の中から少なくとも1つを選択する手段と、選択した寸法測定法に対応する寸法測定用較正パラメータを利用して寸法を計算する手段とを具備する。

Claim (excerpt)：

濃淡値を有するディジタル画像上の1つの線分上のプロフィールから対象物の寸法を測定する寸法測定装置において、予め測定する寸法が計測されていてこれを入力する手段と、この測定する寸法が予め計測されている基準物体のプロフィールから前記予め計測されている寸法に基づいて寸法測定実行メニュー内の測定法に応じて寸法測定用較正パラメータを求めてこれを登録する手段と、これから寸法を測定する物体のプロフィールを表示する手段と、前記寸法測定実行メニュー内の測定法の中から少なくとも1つを選択する手段と、選択した寸法測定法に対応する寸法測定用較正パラメータを利用して寸法を計算する手段とを具備することを特徴とする寸法測定装置。

IPC (3)：

G01B 15/00 ,  G01B 11/02 ,  G06T 7/00