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J-GLOBAL ID：200903056215731708

BbT積測定装置

Inventor： 細谷 晴彦 ,  黒田 政廣 ,  上沢 貴秋 ,  石井 寛之
Applicant, Patent owner： アンリツ株式会社 ,  日本電気株式会社
Agent (1)： 早川 誠志
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001270531
Publication number (International publication number)：2003087341
Application date： Sep. 06, 2001
Publication date： Mar. 20, 2003
Summary：

【要約】【課題】 少ない標本値で正確なBbT積を短時間に得られるようにする。【解決手段】 参照パターンと等しいパターンで変化するシンボル列の中間シンボルの位相推移値とBbT積との関係を予め求めてデータベース部33に記憶しておき、BbT積が未知の位相連続多値FSK信号に対して復調処理部21で得られるシンボルdとそのシンボルdの検出に用いた位相推移値Δφとを対応付けてメモリ27に記憶する。メモリ27に記憶されたシンボルがパターン設定手段28に設定されている参照パターンと同一パターンで変化したことがパターン判定手段29によって判定されると、位相推移値抽出手段30はその中間シンボルに対応する位相推移値を抽出し、平均演算手段31は、その抽出した位相推移値の平均値を求め、BbT積検出手段32はその平均の位相推移値とデータベース部33の情報とに基づいてBbT積を求める。

Claim (excerpt)：

NRZ形式のベースバンド信号を波形整形フィルタで波形整形した変調信号によって所定の変調指数で周波数変調して得られる位相連続多値FSK信号を受けて、前記波形整形フィルタのBbT積を測定するBbT積測定装置において、入力された位相連続多値FSK信号に対して、瞬時位相を検出する位相検出手段(22)と、前記入力された位相連続多値FSK信号に対してシンボルクロック同期処理を行うシンボルクロック同期処理手段(23)と、前記位相検出手段で検出された位相に対して、前記シンボルクロック同期処理手段で得られたタイミングで標本化する位相標本化手段(24)と、前記位相標本化手段で得られた位相の前記位相標本化手段で得られた一つ前の位相に対する位相推移値を検出する位相推移値検出手段(25)と、前記位相推移値検出手段によって検出された位相推移値の符号からシンボルデータを検出するシンボルデータ検出手段(26)と、前記シンボルデータ検出手段によって検出されたシンボルデータとそのシンボルデータを検出するときに用いた位相推移値とを対応づけて記憶する記憶手段(27)と、任意の参照パターンを設定するパターン設定部(28)と、前記記憶手段に記憶されたシンボルデータのパターンと前記パターン設定部によって設定されている参照パターンとを比較し、前記記憶手段に記憶されたシンボルデータのパターンが前記参照パターンと一致するか否かを判定するパターン判定手段(29)と、前記パターン判定手段によってパターンの一致が判定されたとき、該パターンの中間のシンボルに対応する位相推移値を前記記憶手段から抽出する位相推移値抽出手段(30)と、前記位相推移値抽出手段で抽出された位相推移値の平均値を算出する平均演算手段(31)と、前記参照パターンの中間のシンボルに対する位相推移値と前記波形整形フィルタのBbT積との関係を示す情報を予め記憶しているデータベース部(31)と、前記平均演算手段で算出された位相推移値の平均値と、前記データベース部に記憶されている情報とに基づいて、前記波形整形フィルタのBbT積を求めるBbT積検出手段(32)とを備えたことを特徴とするBbT積測定装置。

F-Term (3)：

5K004AA04 ,  5K004EA03 ,  5K004ED04