Pat

J-GLOBAL ID：200903056447397545

角度測定装置

Inventor： 伊藤 博
Applicant, Patent owner： ニチハ株式会社
Agent (1)： 加古 宗男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994176046
Publication number (International publication number)：1996021703
Application date： Jul. 05, 1994
Publication date： Jan. 23, 1996
Summary：

【要約】【目的】 断面L字状測定対象物の内角を簡単且つ正確に測定する。【構成】 断面直角L字状の測定基準台21の下部水平面部22上にノギス23を配置し、その本尺24を測定基準台21の垂直面部25に対して直角になるように固定する。このノギス23の副尺27を出隅部材12の稜角部内側面に当接させまで突出させ、その副尺27の突出寸法、つまり、測定基準台21の稜角部から出隅部材12の稜角部内側面までの隙間寸法Dをノギス23の目盛によって読み取る。また、測定基準台21の垂直面部25にスライドプレート31を上下方向にスライド可能に設け、このスライドプレート31を出隅部材12の上端に当接させて、測定基準台21の下端面から出隅部材12の上端までの高さ寸法Hを垂直面部25のゲージで測定する。これらの測定値D,Hに基づいて次式の関係から出隅部材12の内角θを求める。 θ=90°-tan -1(D/H)

Claim (excerpt)：

建物の外壁コーナー部に使用される出隅部材,入隅部材等の断面L字状の測定対象物の内角を測定する装置であって、断面直角L字状に形成され、前記測定対象物の内面に宛てがわれる測定基準台と、この測定基準台の下部水平面に設けられ、該測定基準台の稜角部から前記測定対象物の稜角部内側面までの隙間寸法を測定する隙間測定手段と、前記測定基準台の垂直面に設けられ、前記測定基準台の下端面から前記測定対象物の上端までの高さ寸法を測定する高さ測定手段とを備えたことを特徴とする角度測定装置。

IPC (2)：

G01B 5/24 ,  G01B 3/20 101