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J-GLOBAL ID：200903056518681304

欠陥画素検出装置

Inventor： 上田 理
Applicant, Patent owner： キヤノン株式会社
Agent (1)： 國分 孝悦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995260181
Publication number (International publication number)：1997102912
Application date： Oct. 06, 1995
Publication date： Apr. 15, 1997
Summary：

【要約】【課題】 カメラの使用中に生じる微細画素CCDの欠陥画素は移動したり、発生/消滅したりするが、これを確実に検出する。【解決手段】 CCDからの画像信号はA/D変換器200、1/n割り算器201を通じ、加算器202、フィールドメモリ203により、1フィールド毎にn回積分され、積分された信号は比較回路208で閾値refと比較され、refを越えたとき欠陥画素とし、その数をカウンタ209で検出すると共に、その位置をnカウンタ205、垂直、水平カウンタ206、207で検出して垂直、水平カウンタ210、211に記憶する。欠陥画素の数に応じてrefの値を変更し、欠陥画素の位置に応じて画像信号を補間するように成す。

Claim (excerpt)：

撮像素子から得られる画像信号を所定期間毎に所定の回数積分する積分手段と、上記積分手段で積分された画像信号を所定の閾値と比較する比較手段とを備えた欠陥画素検出装置。

IPC (3)：

H04N 5/335 ,  H04N 5/232 ,  H04N 17/00

FI (4)：

H04N 5/335 P ,  H04N 5/335 F ,  H04N 5/232 Z ,  H04N 17/00 K