X線画像診断装置

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001240945
Publication number (International publication number)：2003052674
Application date： Aug. 08, 2001
Publication date： Feb. 25, 2003
Summary：

【要約】【課題】非照射時間が短い場合においてもオフセット情報の更新を行うことが可能なX線平面検出器を用いたX線画像診断装置を提供する。【解決手段】上記課題は、X線コリメータ3又は支持器5の位置情報を検出し、該検出された各位置情報からX線平面検出器4に投影されるX線コリメータ3の挿入位置を算出するX線コリメータ挿入位置算出手段11と、該算出された挿入位置を除く領域の画像情報をX線平面検出器4より読み出させるとともに、該読み出した領域の画像情報を用いてオフセット補正手段8に当該領域のオフセット補正をさせるX線平面検出器制御手段6とを備えたことで解決される。

Claim (excerpt)：

被写体にX線を照射するX線源と、このX線源のX線照射方向に配置され前記X線の照射範囲を決定するX線コリメータと、前記X線源に対向して配置され前記被写体を透過したX線を検出する二次元配列された検出素子を含むX線平面検出器と、前記X線源と前記X線平面検出器を支持する支持器と、前記X線平面検出器から読み出された画像情報のバックグラウンド成分をオフセット情報として記憶する手段と、該記憶されたオフセット情報を用い前記X線平面検出器から読み出される画像のオフセット情報を補正する手段とを有するX線画像診断装置において、前記X線コリメータ又は前記支持器の位置情報を検出し、該検出された各位置情報から前記X線平面検出器に投影される前記X線コリメータの挿入位置を算出する手段と、該算出された挿入位置を除く領域の画像情報を前記X線平面検出器より読み出させるとともに、該読み出した領域の画像情報を用いて前記オフセット情報補正手段に当該領域のオフセット補正をさせる制御手段とを備えたことを特徴とするX線画像診断装置。

IPC (7)：

A61B 6/00 300 , A61B 6/06 300 , G01T 1/00 , G01T 1/17 , G01T 1/20 , G01T 7/00 , G21K 5/02

FI (7)：

A61B 6/00 300 S , A61B 6/06 300 , G01T 1/00 B , G01T 1/17 E , G01T 1/20 E , G01T 7/00 C , G21K 5/02 X

F-Term (26)：

2G088EE01 , 2G088FF02 , 2G088GG19 , 2G088GG20 , 2G088GG21 , 2G088JJ05 , 2G088JJ24 , 2G088KK24 , 2G088KK32 , 2G088KK35 , 2G088LL11 , 2G088LL12 , 2G088LL17 , 2G088LL18 , 4C093AA01 , 4C093AA07 , 4C093AA16 , 4C093AA24 , 4C093CA06 , 4C093EB12 , 4C093EB13 , 4C093EB17 , 4C093FA16 , 4C093FA54 , 4C093FC18 , 4C093FC19

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