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J-GLOBAL ID：200903056706547453

超音波探触子装置

Inventor： 山本 弘
Applicant, Patent owner： 日立建機株式会社
Agent (1)： 高崎 芳紘
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992275803
Publication number (International publication number)：1994130044
Application date： Oct. 14, 1992
Publication date： May. 13, 1994
Summary：

【要約】【目的】 縦弾性係数(ヤング率)Eとポアソン比νとを同一の探触子装置で計測したい。【構成】 音響レンズ8の凹面部9の端部凹面部9Aの曲率半径の大きさを、漏洩レーリー波検出に必要な曲率半径とし、この凹面部9Aには、漏洩レーリー波LSAW検出用の探触子13を設置する。一方、凹面部9Bの曲率半径の大きさを、レーリー波用の曲率半径よりも大きな値とし、この凹面部9Bに、漏洩擬似波LSSCW検出用の探触子12を、直接反射波の探触子11と共に、設置する。これによって、探触子12による焦点深度F1は、レーリー波の焦点深度Frよりも大きくなる。

Claim (excerpt)：

凹面部を持つ点集束用音響レンズと、該凹面部の別々の位置に設けた、垂直反射波検出用の第1の探触子・漏洩擬似縦波反射波検出用の第2の探触子・漏洩レーリー波反射波検出用の第3の探触子と、より成る超音波探触子装置において、上記第2の探触子設置位置の凹面部は漏洩レーリー波検出用の曲率半径の大きさとし、第3の探触子設置位置の凹面部の曲率半径は上記レーリー波検出用の曲率半径の大きさよりも大きな値とする超音波探触子装置。

IPC (2)：

G01N 29/24 501 ,  G01N 29/20 501