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J-GLOBAL ID：200903056750697179

偏光測定装置及びこれを用いた偏光顕微鏡

Inventor： 河田 聡 ,  山本 明弘
Applicant, Patent owner： 河田 聡 ,  株式会社コーガク
Agent (1)： 前川 幾治
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992131471
Publication number (International publication number)：1993296841
Application date： Apr. 24, 1992
Publication date： Nov. 12, 1993
Summary：

【要約】【目的】旋光性や磁性、複屈折性などを有する物質に直線偏光を入射したときの偏光面の微小回転を容易に検出できるようにすること、及び装置の小型化と低価格化を図ることを目的とする。【構成】直線偏光子とこれに直交する検光子の組合わせにより、検光子は直線偏光子の方位角と等しい直線偏光成分を抑圧する一方でこの成分と直交する成分は透過させて偏光面の回転を増大し、増大された偏光面の回転をもう1つの検光子を用いて可視化することを基本の特徴とする。そしてこの基本構成を顕微鏡に適用して偏光変調された領域の明瞭なコントラスト像を得るものである。

Claim (excerpt)：

光源と被検体との間に設けられる直線偏光子と、前記被検体からの直線偏光のうち前記直線偏光子の方位角と等しい直線偏光成分を抑圧する一方、この直線偏光成分と直交する成分は透過させる検光手段と、該検光手段からの直線偏光を検光する検光子と、この検光子からの光を光電変換する光電変換手段とを備えたことを特徴とする偏光測定装置。

IPC (4)：

G01J 4/04 ,  G01N 21/21 ,  G02B 21/00 ,  G02B 27/28

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 特公昭55-019366
  
• 特公昭61-010888