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J-GLOBAL ID：200903056815485700

半導体回路

Inventor： 岸田 武 ,  吉田 忠弘
Applicant, Patent owner： 松下電器産業株式会社
Agent (1)： 滝本 智之 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996096506
Publication number (International publication number)：1997282044
Application date： Apr. 18, 1996
Publication date： Oct. 31, 1997
Summary：

【要約】【課題】 複数のクロック系統をもつ半導体回路において、クロックスキュ-の削減を実現する。【解決手段】 クロック発振器7と、半導体回路チップ100b上に構成され、分周比をプログラマブルに設定可能な分周器8c,8d、位相比較器9c,9d、クロック比較信号と基準クロック信号を選択可能とするセレクタ10、ループフィルタ11c,11d、電圧制御発振器12c,12d、クロックバッファで構成されるクロックトリー13c,13d、フリップ・フロップ14c,14d、それぞれ、電圧制御発振器13c,13dと標準セルで構成され、自動配置配線を行ったランダムロジックブロック15c,15d、分岐点206で分岐して、外部クロック発振器7と位相比較器9dの基準信号入力部fr、セレクタ10の入力部in0とを接続するクロック供給配線204、それぞれフリップ・フロップ14c,14dのクロック信号入力部と分周器8c,8dを経由して、位相比較器9c,9dの比較信号入力部faに接続されるクロック参照配線205a,205bとで形成する。

Claim (excerpt)：

発振器と、前記発振器からの出力信号を基準クロック信号とする位相比較器と、前記位相比較器の出力信号を入力信号とするループフィルタと、前記ループフィルタからの出力信号を入力信号とし、ブロック内クロック信号を生成する電圧制御発振器と、ブロック内クロック信号を元にフリップ・フロップへのクロック信号を供給するクロックバッファと、前記フリップ・フロップへの入力信号を入力信号とし、プログラマブルに分周比を設定し、前記位相比較器への比較信号を出力する分周器とを備えた半導体回路。

IPC (7)：

G06F 1/10 ,  H01L 27/04 ,  H01L 21/822 ,  H03K 19/0175 ,  H03L 7/22 ,  H04L 7/00 ,  H04L 7/033

FI (6)：

G06F 1/04 330 A ,  H03L 7/22 ,  H04L 7/00 Z ,  H01L 27/04 D ,  H03K 19/00 101 N ,  H04L 7/02 B