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J-GLOBAL ID：200903056822922261

空間的光変調器ディスプレイ内に存在する欠陥の視覚的影響を減少させる方法およびディスプレイ装置

Inventor： ビシャル マーカンディ ,  ロバート ジェイ.ゴウブ
Applicant, Patent owner： テキサス インスツルメンツ インコーポレイテツド
Agent (1)： 浅村 皓 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995177658
Publication number (International publication number)：1996054855
Application date： Jul. 13, 1995
Publication date： Feb. 27, 1996
Summary：

【要約】【目的】 画像ディスプレイ内に存在する欠陥の視覚的影響を減少させる方法およびディスプレイ装置を提供する。【構成】 画像ディスプレイの画素アレイ200のそれぞれの無欠陥画素は、アドレス指定機構からの入力データに応答して、光が観察表面上へ送られる「オン」状態と、光が該観察表面上へ送られない「オフ」状態と、の間で選択的に動作可能である。欠陥は通常、前記入力データに応答しない欠陥画素202が、「オン」または「オフ」状態に連続的に留まる場合に生じる。それぞれの欠陥画素202は、該中心欠陥画素202に隣接する第1リングの補償画素204により直接取巻かれ、該補償画素204は、中心欠陥画素202から間隔をおいた第2リングの基準画素206により直接取巻かれている。前記欠陥の視覚的影響を減少させるために、該欠陥画素を取巻く第1リング内の少なくとも1つの補償画素204の前記アドレス指定回路決定値が、補正値に変えられる。

Claim (excerpt)：

画像ディスプレイ内に存在する欠陥の視覚的影響を減少させる方法であって、該ディスプレイが画素のアレイを含み、それぞれの無欠陥画素がアドレス指定機構から供給される入力データに応答して、光が観察表面上へ送られる「オン」状態と、光が該観察表面上へ送られない「オフ」状態と、の間で選択的に動作可能であり、欠陥が、前記入力データまたは前記アドレス指定機構の動作にかかわらず前記「オン」または「オフ」状態に連続的に留まる欠陥画素によるものであり、それぞれの欠陥画素が、事実上、中心欠陥画素に隣接する第1リングの補償画素によって直接取巻かれた該中心欠陥画素であり、該第1リングの補償画素が前記中心欠陥画素から間隔をおいた第2リングの基準画素によって直接取巻かれており、前記方法が、(a)欠陥を発生する欠陥画素を識別するステップと、(b)該欠陥画素を取巻く第1リング内の少なくとも1つの補償画素のアドレス指定回路決定値を、CNEW =CSINC(DACT -DINT )+DINTによって与えられる補正値であって、CNEW が前記補償画素に割当てられる強度値であり、CSINCが該補償画素に対して評価されたsinc関数の値であり、DACT が前記欠陥画素の実際の強度値であり、DINT が該欠陥画素の意図された強度値である、前記補正値に変えるステップと、を含む、画像ディスプレイ内に存在する欠陥の視覚的影響を減少させる方法。

IPC (2)：

G09G 3/20 ,  G02B 26/08

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

• 特表平5-506108