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J-GLOBAL ID:200903056834296838
エピトープの位置を確認して同定する方法
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (2):
風早 信昭
, 浅野 典子
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):2002570181
Publication number (International publication number):2004530119
Application date: Feb. 28, 2002
Publication date: Sep. 30, 2004
Summary:
本発明は分子上に位置する特定のエピトープの位置を確認して同定する方法に関する。対象の分子は細胞又は試験管中に位置されることができる。本発明は例えば抗体によるエピトープの特異的な標識付けと組合わせた電子顕微鏡法の使用に基づく。電子顕微鏡法は極めて低い電子線の線量を使用して行われ、これは標識付けする分子をそれらのエピトープに結合させたまま維持することを可能にする。さらに、方法は生物学的文脈における分子の研究を可能にする。【選択図】図1
Claim (excerpt):
試料中の分子上に位置する特定のエピトープの位置を確認して同定する方法であって、下記のステップを含む方法:
(a)アフィニティ試薬又は1又は2以上のこのようなアフィニティ試薬の複合体を、前記試料中の前記分子に結合させることによってアフィニティ標識付けを行い;
(b)試料中の前記分子と他の要素の間の空間関係を固定し;
(c)試料を電子顕微鏡法のグリッド上に配置し、
(d)試料を、透過型電子顕微鏡の低線量電子線に露出させ;
(e)データをティルトシリーズから収集し;
(f)収集したデータを利用して、個々の分子の構造を三次元で再構成し;
(g)COMETを使用して、前記再構成物を改善し、前記試料中の個々の分子を目視可能にする。
IPC (6):
G01N33/53
, G01N1/28
, G01N1/30
, G01N1/36
, G01N33/58
, H01J37/26
FI (8):
G01N33/53 Z
, G01N1/30
, G01N33/58 Z
, H01J37/26
, G01N1/28 F
, G01N1/28 J
, G01N1/28 K
, G01N1/28 R
F-Term (18):
2G045AA24
, 2G045BA14
, 2G045BB24
, 2G045CB01
, 2G045FA16
, 2G052AA33
, 2G052AD34
, 2G052AD52
, 2G052EB08
, 2G052EB13
, 2G052EC03
, 2G052FA02
, 2G052FA09
, 2G052GA34
, 2G052HB08
, 2G052HB10
, 5C033UU02
, 5C033UU03
Article cited by the Patent:
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