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J-GLOBAL ID：200903056905927923

試料チップ

Inventor： グルーバー,ルイス ,  ムエス,ダン
Applicant, Patent owner： アリックス,インコーポレーテッド
Agent (10)： 岡部 正夫 ,  加藤 伸晃 ,  産形 和央 ,  臼井 伸一 ,  藤野 育男 ,  越智 隆夫 ,  本宮 照久 ,  高梨 憲通 ,  小林 恒夫 ,  齋藤 正巳
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2003546068
Publication number (International publication number)：2005509883
Application date： Nov. 15, 2002
Publication date： Apr. 14, 2005
Summary：

試料チップは、本体部と、本体部上に配置されるカバー部とを含み、本体部の上面は、物体が検査および操作のために光トラップにより導入される複数のマイクロチャネルを含む。1つの実施形態では、マイクロチャネルのうちの少なくとも1つは、物体を保持するバリアを含み、それにより、物体は光トラップにより保持および操作されることができる。別の実施形態では、マイクロチャネルのうちの少なくとも1つは、バリアが配置される試料チャンバを含む。マイクロチャネルの数およびその構成は変化してよく、マイクロチャネルは交差していてもよく、試料チャンバはその交点に配置される。バリアは、試料チャンバと一体形成されるかまたは試料チャンバに取り外し可能に配置される複数のバリア構造のうちの少なくとも1つを含む。バリア構造は、異なる形状をとってもよく、形状の任意の組み合わせであってもよい。

Claim (excerpt)：

本体部と、 該本体部およびカバー部の内部に複数のマイクロチャネルが形成され、該本体部上に配置されているカバー部と、 物体が導入される試料チャンバであって、前記マイクロチャネルのうちの少なくとも1つに配置され、かつ光トラップを生成する装置の作業焦点領域内に位置付けられて、該物体の実験および操作が該光トラップにより行われる、試料チャンバと を含む試料チップ。

IPC (4)：

G01N37/00 ,  C12M1/00 ,  G01N21/64 ,  G02B21/34

FI (5)：

G01N37/00 ,  G01N37/00 101 ,  C12M1/00 A ,  G01N21/64 Z ,  G02B21/34

F-Term (14)：

2G043AA03 ,  2G043BA16 ,  2G043CA03 ,  2G043DA05 ,  2G043EA01 ,  2G043FA01 ,  2G043FA02 ,  2G043HA01 ,  2G043KA09 ,  2H052AE13 ,  4B029AA07 ,  4B029AA27 ,  4B029CC01 ,  4B029FA01

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

• DNA配列決定の方法および装置
  Gazette classification：公表公報   Application number：特願平6-518167   Applicant：セック,リミテッド