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J-GLOBAL ID:200903057109344890
不揮発性メモリ装置及びその製造方法
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
杉村 暁秀 (外5名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1992340571
Publication number (International publication number):1993275713
Application date: Dec. 21, 1992
Publication date: Oct. 22, 1993
Summary:
【要約】【目的】 電気的プログラムが可能で消去可能な不揮発性メモリで、チップ表面積を大幅に減少させる。さらに金属接続を減じ信頼性の向上、製造コストの低減を図る。【構成】 多結晶ゲート構造の列を画成するトレンチの側壁に方向性あるイオン・インプランテーション工程により、ソース及びドレイン領域を形成し、かつ接続用金属層は1層のみとする。
Claim (excerpt):
次の各構成を具えてなる不揮発性メモリ装置:基板;一部分がこの基板を通じて延びている複数個の平行なトレンチ;各トレンチは、トレンチの1つの壁部を横切るように設けられた少なくとも第1ドープ領域を有する;基板上に形成された積重ね多結晶ゲート構造の行及び列のアレイで、各列は上記トレンチの2つを分離するように設けられたアレイ構造;上記ドープ領域は幅より大きな高さを有し、その高さ方向はトレンチの壁部と平行であり、幅方向はトレンチ壁部に直角である;を特徴とする不揮発性メモリ装置。
IPC (4):
H01L 29/788
, H01L 29/792
, G11C 16/06
, H01L 27/115
FI (3):
H01L 29/78 371
, G11C 17/00 309 D
, H01L 27/10 434
Patent cited by the Patent:
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