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J-GLOBAL ID：200903057130317011
パルス列分析装置
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
三品 岩男 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992305522
Publication number (International publication number)：1994160532
Application date： Nov. 16, 1992
Publication date： Jun. 07, 1994
Summary：
【要約】【目的】 精度の向上と処理時間の短縮とを同時に実現する、パルス列分析装置を提供する。【構成】 複数の放射源から発生されたパルス信号が受信され、受信されたパルス信号の属性が検出されると、属性を示す属性値がメモリー1に記憶される。この属性値に基づきパルスは放射源毎に分類され、メモリー10に放射源毎にパルスのメモリー1のアドレスが格納される。放射源の特徴の分析に際して、プロセッサ8は、この放射源に属するパルスの属性値をメモリー1から読みだし、少なくとも2つのパルス間での属性値の変化量を回路11で計算する。パルスの属性値、または、属性値の変化量に基づき、予め定められた条件により回路30によりパルスをクラスタ分けし、クラスタの統計的な値を統計値補正回路15で補正しながら、統計値メモリー14に格納する。
Claim (excerpt)：
複数の放射源から発生されたパルス信号を受信し、受信されたパルス信号の属性を検出し、検出された属性を示す属性値を属性値記憶手段に記憶し、この属性値に基づき前記パルスを放射源毎に分類して分類記憶手段に格納し、この分類記憶手段に放射源毎に分類されたパルスの特徴を分析して、前記放射源の種類を特定するパルス列分析装置において、パルスの特徴の分析に際して、前記分類記憶手段に格納された前記属性値記憶手段のアドレスから、このアドレスに格納された属性値を読み出すための読みだし手段と、読みだされた少なくとも2つのパルス間での属性値の変化量を計算する計算手段と、読みだされたパルスの属性値、または、計算された属性値の変化量に基づき、予め定められた条件により、パルスをクラスタ分けするためのクラスタ分け手段と、前記クラスタの統計的な値を記憶するための統計値記憶手段と、を備えることを特徴とするパルス列分析装置。
IPC (2)：
Patent cited by the Patent：
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