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J-GLOBAL ID：200903057163892828

異常陰影候補検出方法および装置

Inventor： 武尾 英哉
Applicant, Patent owner： 富士写真フイルム株式会社
Agent (1)： 柳田 征史 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000263641
Publication number (International publication number)：2002074325
Application date： Aug. 31, 2000
Publication date： Mar. 15, 2002
Summary：

【要約】【課題】 アイリスフィルタ処理等で検出された異常陰影の候補領域のうち所望の異常陰影を検出する方法において、検出精度をさらに向上させ、より正確に所望の異常陰影を異常陰影候補として検出する。【解決手段】 候補領域検出手段11が被写体の画像データPを入力し画像データPに含まれる候補領域を検出し、特徴量算出手段12がその候補領域の特徴量を算出し、マハラノビス距離を用いる評価値算出手段13aおよびニューラルネットワークを用いる評価値算出手段13bがこの特徴量から各々評価値を算出し、判定手段13cがこの2つの評価値の信頼度に基づいて候補領域が悪性であるか否かを複合的に判定し、異常陰影検出手段14が悪性であると判定された候補領域のみを最終的な異常陰影候補として検出する。

Claim (excerpt)：

被写体の放射線画像を表す画像信号に基づいて該画像中の異常陰影候補を検出する異常陰影候補検出方法において、前記画像信号に基づいて、前記放射線画像中の異常陰影の候補領域を検出し、該候補領域が所望の異常陰影であるか否かを複数の判定手法を用いて複合判定し、前記所望の異常陰影であると判定された前記候補領域のみを異常陰影候補として検出することを特徴とする異常陰影候補検出方法。

IPC (5)：

G06T 1/00 290 ,  A61B 6/00 ,  G06T 7/00 350 ,  G06T 7/00 ,  H04N 7/18

FI (5)：

G06T 1/00 290 A ,  G06T 7/00 350 A ,  G06T 7/00 350 C ,  H04N 7/18 K ,  A61B 6/00 350 D

F-Term (29)：

4C093AA26 ,  4C093CA35 ,  4C093FD05 ,  4C093FF17 ,  4C093FF19 ,  4C093FF20 ,  4C093FF43 ,  4C093FG20 ,  5B057AA08 ,  5B057BA03 ,  5B057BA24 ,  5B057CA16 ,  5B057CB16 ,  5B057CC03 ,  5B057CE06 ,  5B057CE11 ,  5B057CH09 ,  5B057DA08 ,  5C054CA02 ,  5C054FC03 ,  5C054HA12 ,  5L096BA06 ,  5L096EA23 ,  5L096FA33 ,  5L096FA34 ,  5L096FA66 ,  5L096GA55 ,  5L096HA11 ,  5L096JA11