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J-GLOBAL ID：200903057233115000
視程計の試験装置
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
宮園 純一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995031078
Publication number (International publication number)：1996219945
Application date： Feb. 20, 1995
Publication date： Aug. 30, 1996
Summary：
【要約】【目的】 視程計のスタティックな特性評価はもちろん、ダイナミックな特性評価もできる試験装置を得る。【構成】 液晶装置11の光の透過率は透過率制御装置41により制御され、ターゲット2から視程計3へ届く光の輝度は変化する。この輝度の変化を、降雪等をシミュレーションできるよう変化させると、実際の降雪等の状態を視程計3が検出できる。したがって、視程計3が得る視程値を調べることにより、視程計3のダイナミックな特性評価もでき、視程計3の性能を十分に試験できる。
Claim (excerpt)：
白部分と黒部分とを隣接して成るターゲットを撮影し、その画像を処理して上記白部分と黒部分の輝度の差を求め、この輝度差に基づいて視程値を計測するための視程計の試験装置において、上記ターゲットと上記視程計間に配置され光の透過率が変化可能な液晶装置と、この液晶装置の光の透過率を制御する透過率制御装置とを備えたことを特徴とする視程計の試験装置。
IPC (3)：
G01M 11/00
, G01W 1/18
, G01W 1/14
G01M 11/00 T
, G01W 1/18
, G01W 1/14 Q
Cited by applicant (3)
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特開平2-296185
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特開昭63-029725
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特開昭63-188741
Cited by examiner (2)
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