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J-GLOBAL ID：200903057270403392

欠点検査方法及び装置

Inventor： 吉田 輝人
Applicant, Patent owner： 旭硝子株式会社
Agent (1)： 松浦 憲三
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995226567
Publication number (International publication number)：1997072853
Application date： Sep. 04, 1995
Publication date： Mar. 18, 1997
Summary：

【要約】【課題】取り扱いが容易で、かつ被検査体の非欠点部を欠点として誤認することの少ない被検査体の欠点検査方法及び装置を提供する。【解決手段】被検査体のガラス板20を一定速度で搬送しながらCCDラインセンサ16で撮像する。CCDラインセンサ16から出力された画像データを白黒の二値化処理して欠点画像データを抽出する。そして、欠点画像データの中の個々の欠点画像のうち互いにあらかじめ定められた距離以下にあるものをリンクして1つの欠点領域とし、該欠点領域の面積のうち所定の面積よりも大きいものを被検査体のエッジ画像として判別・除去し、そして、このエッジ画像を除去した欠点画像中から欠点画像の有無を検出することにより欠点を検出する。画像処理部34は、抽出した欠点画像データを二次元展開し、この二次元展開された画像から予め記憶されている欠点の画像の面積よりも大きい面積をもつ透明板状体のエッジ画像、透明板状体の孔部画像、及び透明板状体に付されたマーク画像の非欠点画像を除去し、この非欠点画像を除去した欠点画像中から欠点の有無を検出する。

Claim (excerpt)：

被検査体に存在する突起物、傷、泡、付着物、汚れ等の欠点を検出する被検査体の欠点検査方法において、複数の被検査体を連続して搬送しながら撮像手段で撮像し、前記撮像手段から出力された前記被検査体の画像データを二値化処理して欠点画像データを抽出し、欠点画像データから欠点を検出する際に、あらかじめ、欠点画像データの中の個々の欠点画像のうち互いにあらかじめ定められた距離以下にあるものをリンクして1つの欠点領域とし、該欠点領域の面積のうち所定の面積よりも大きいものを被検査体のエッジ画像として判別することを特徴とする欠点検査方法。