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J-GLOBAL ID：200903057358768250

光学的測定装置

Inventor： 重森 和久
Applicant, Patent owner： ダイキン工業株式会社
Agent (1)： 津川 友士
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992268792
Publication number (International publication number)：1994117997
Application date： Oct. 07, 1992
Publication date： Apr. 28, 1994
Summary：

【要約】【目的】 信号光のS/N比を向上させることのできる光学的測定装置を提供する。【構成】 蛍光の検出角度θは光導波路2の全反射角φcに極めて近い角度に設定されており、蛍光検出光学系の光軸Kは屈折型結合プリズム1による屈折を考慮して検出角度θに対応して設定されている。又、光導波路2に入射する励起光の入射角度φは蛍光の検出角度θに比べて十分に大きく設定され、励起光入射光学系の光軸Jは屈折型結合プリズム1による屈折を考慮して入射角度φに対応して設定されている。したがって、ノイズ光を低減した状態で蛍光と励起光を分離でき、信号光のS/N比を向上させることができる。

Claim (excerpt)：

光導波路(2)の所定位置に設けられたプリズム(1)を通して測定光を導入し、測定光のエバネッセント波成分により光導波路(2)の表面近傍の光学的測定を行ない、光学的測定結果を示す信号光を光導波路(2)およびプリズム(1)を通して出射させて光検出器(4c)に導く光学的測定装置であって、光導波路(2)に入射する測定光の入射角度が臨界角よりも十分に大きい所定角度になるように測定光入射光学系(3)の光軸が設定されているとともに、信号光検出光学系(4)の光軸が光導波路(2)から出射する信号光のうち臨界角に近接した検出角度に対応して設定されていることを特徴とする光学的測定装置。

IPC (3)：

G01N 21/64 ,  G01N 21/78 ,  G01N 33/543