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J-GLOBAL ID：200903057378789033

測光装置

Inventor： 宮成 洋
Applicant, Patent owner： キヤノン株式会社
Agent (1)： 西山 恵三 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998369639
Publication number (International publication number)：2000194028
Application date： Dec. 25, 1998
Publication date： Jul. 14, 2000
Summary：

【要約】【課題】 安価で、スポット測光用のセンサの位置調整の工程も省略できる、逆光判定可能な測光装置及びカメラを提供する。【解決手段】 被写体までの距離情報及びデフォーカス情報の少なくともいずれか一方を検出するための受光手段と、撮影画面の平均輝度を測光するための測光手段と、前記受光手段により得られる輝度情報と前記測光手段より得られる輝度情報を比較し、逆光状態を判定する判定手段とを有することを特徴とする測光装置及びカメラ。

Claim (excerpt)：

被写体までの距離情報及びデフォーカス情報の少なくともいずれか一方を検出するための受光手段と、撮影画面の平均輝度を測光するための測光手段と、前記受光手段により得られる輝度情報と前記測光手段より得られる輝度情報を比較し、逆光状態を判定する判定手段とを有することを特徴とする測光装置。

IPC (4)：

G03B 7/08 ,  G01J 1/02 ,  G01J 1/44 ,  G03B 15/05

FI (4)：

G03B 7/08 ,  G01J 1/02 E ,  G01J 1/44 G ,  G03B 15/05

F-Term (17)：

2G065AA08 ,  2G065AB04 ,  2G065BA01 ,  2G065BC14 ,  2G065CA02 ,  2G065DA18 ,  2H002AB04 ,  2H002CD11 ,  2H002DB04 ,  2H002DB20 ,  2H002DB26 ,  2H002FB22 ,  2H002GA54 ,  2H002HA21 ,  2H002HA22 ,  2H053AA01 ,  2H053AB03