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J-GLOBAL ID:200903057382039537

物品の変形度の評価方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 佐藤 晃一
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1995151400
Publication number (International publication number):1997005068
Application date: Jun. 19, 1995
Publication date: Jan. 10, 1997
Summary:
【要約】【目 的】 変形形状が同じであれば、同じ評価が得られ、しかも変形状態を本質的にかつ容易に把握できるような変形度の絶対的な評価方法を提供する。【構 成】 A点、B点及びC点の座標から最小二乗法により回帰平面の式を求め、ついで各点のA、B、Cから回帰平面までの最短距離δA 、-δB 、δC を求める。次にδC A とすると、-側の最大値の絶対値δB と、+側の最大値δC の和から、和が小さい程平面に近く、変形度が小さいと評価する。
Claim (excerpt):
対象物品の変形度を求めようとする部分から選んだ複数の節点について、各節点の座標を取出し、これより最小二乗法にて回帰直線、回帰平面、回帰円又は回帰球面を算出したのち、回帰直線、回帰平面、回帰円又は回帰球面からの各節点の変位量を求め、ついで-側の最大値と+側の最大値を選び、その絶対値の和から上記物品の変形度を求めようとする部分の変形度を評価する方法。
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (2)
  • リード平坦度測定装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平3-326462   Applicant:日本電気株式会社
  • 特開昭55-126808

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