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J-GLOBAL ID：200903057393666355
物品の検査方法とその装置
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
三俣 弘文
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997242626
Publication number (International publication number)：1998090174
Application date： Sep. 08, 1997
Publication date： Apr. 10, 1998
Summary：
【要約】【課題】 時間領域分光術、特にテラヘルツ信号を用いて対象物を画像化する方法と装置を提供する。【解決手段】 ある種の材料および対象物は、その材料または対象物を伝播する信号のテラヘルツ過渡現象の周波数依存性吸収と分散と反射により特徴づけることができる。現在のテラヘルツ画像処理システムは、時間領域の周波数依存性をその対象物中を伝播する信号を収集し、その後対象物上の「ピクセル」に対するこれら信号中に含まれる情報を処理することにより解析している。これは異なる材料,異なる化学構造物あるいは異なる環境の間を差別化できる非破壊的画像処理技術である。
Claim (excerpt)：
ある吸収特性,分散特性あるいは反射特性を有する物体の検査方法において、(A) 前記物体に高周波の電磁パルス信号のシーケンスを照射するステップと、(B) 前記物品から反射するかあるいは前記物品内を伝播した後のパルス信号を検査するステップと、からなり、前記(A)ステップで照射される高周波の電磁パルス信号は、物品の吸収特性,分散特性あるいは反射特性の少なくとも1つの周波数依存性変動を含むような十分に広いスペクトラムバンド幅を有する波形を有し、前記(B)ステップで検査された信号の少なくとも1部は、リアルタイムで前記特性に関するスペクトラム情報を得るために、前記周波数依存性の変動を表す時間歪により特徴づけられることを特徴とする物品の検査方法。
IPC (2)：
FI (2)：
G01N 21/35 Z
, G01N 21/27 A
