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J-GLOBAL ID：200903057402929291

可変遅延回路

Inventor：
藤井 治彦

About 藤井 治彦


Applicant, Patent owner：
安藤電気株式会社

About 安藤電気株式会社


Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995273420
Publication number (International publication number)：1997093098
Application date： Sep. 27, 1995
Publication date： Apr. 04, 1997
Summary：
【要約】【課題】 所望する任意の分解能をもつ可変遅延回路を提供する。【解決手段】 それぞれ入力端子21に入力した信号を出力端子22に送る経路A、B、各経路A、Bをセレクト信号により切り替える選択部243を備える可変遅延部24と、それぞれ経路A、Bの少なくとも一部の遅延時間のx倍、y倍の発振周期をもつリング発振器25、29と、それぞれ第1クロック信号とリング発振器25の出力、第2クロック信号とリング発振器29の出力の位相を比較する位相比較回路27、31と、それぞれ位相比較回路27、31の位相比較結果からリング発振器25、29の発振周期が第1クロック信号、第2のクロック信号の周期と等しくなるようにリング発振器25、29の発振周期を制御すると共に経路A、Bの遅延時間を制御する遅延時間制御回路28、32とを備える。
Claim (excerpt)：
少なくとも、入力端子(21)に入力された信号を出力端子(22)に供給する遅延時間可変の第1の経路(A) 、入力端子(21)に入力された信号を出力端子(22)に供給する遅延時間可変の第2の経路(B) を備え、第1、第2の経路(A,B) のいずれか一方をセレクト信号に応じて選択する機能を有する可変遅延部(24)と、第1の経路(A) の少なくとも一部の遅延時間のx(xは任意の正の数)倍の発振周期をもつ発振周期可変の第1のリング発振器(25)と、第1クロック信号と第1のリング発振器(25)の出力の位相を比較する第1の位相比較回路(27)と、第1の位相比較回路(27)の比較結果に基づいて、第1のリング発振器(25)の発振周期が第1クロック信号の周期と等しくなるように第1のリング発振器(25)の発振周期を制御すると共に、第1の経路(A) の遅延時間を制御する第1の遅延時間制御回路(28)と、第2の経路(B) の少なくとも一部の遅延時間のy( yは任意の正の数)倍の発振周期をもつ発振周期可変の第2のリング発振器(29)と、第2クロック信号と第2のリング発振器(29)の出力の位相を比較する第2の位相比較回路(31)と、第2の位相比較回路(31)の比較結果に基づいて、第2のリング発振器(29)の発振周期が第2クロック信号の周期と等しくなるように第2のリング発振器(29)の発振周期を制御すると共に、第2の経路(B) の遅延時間を制御する第2の遅延時間制御回路(32)とを具備することを特徴とする可変遅延回路。
IPC (4)：
H03K 5/13 ,  H03K 17/28 ,  H03K 19/0175 ,  H04L 7/02
FI (4)：
H03K 5/13 ,  H03K 17/28 K ,  H03K 19/00 101 N ,  H04L 7/02 Z
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (2)
  • 遅延素子
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-004017   Applicant：株式会社東芝
  • 特開平2-296410
Cited by examiner (2)
  • 遅延素子
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-004017   Applicant：株式会社東芝
  • 特開平2-296410

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