Pat
J-GLOBAL ID：200903057445868610

誘導結合プラズマ発光分光分析装置と方法

Inventor：
八木 勇夫

About 八木 勇夫


Applicant, Patent owner：
セイコーインスツルメンツ株式会社

About セイコーインスツルメンツ株式会社


Agent (1)： 坂上 正明
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000125880
Publication number (International publication number)：2001305059
Application date： Apr. 26, 2000
Publication date： Oct. 31, 2001
Summary：
【要約】【課題】 誘導結合プラズマ発光分光分析装置において、軸方向観察は、横方向観察と比較して目的元素に起因する光を多く取り込めるため、分析性能が向上するが、プラズマから発生する熱の影響を除去するため、コーンや冷却水などの手段が必要となり、装置が複雑になるなどの問題点があった。本発明は、軸方向観察と同程度の分析性能を得るとともに、軸方向観察に伴う上記の問題点を解決することを課題とする。【解決手段】 通常の軸方向観察はプラズマを、プラズマの上方から観察するが、本発明は、トーチ内に光ファーバーケーブルを組み付け、ガスの供給側すなわちトーチ内側の中心から(プラズマ下方から)観測する。
Claim (excerpt)：
霧状にされた試料を、プラズマを形成するためのガスと共に導入し、前記試料を該ガスと共にプラズマを形成するトーチと、前記形成されたプラズマの光を分光する分光器とからなり、前記分光器にて検出した光の波長と強度から前記試料の成分の同定あるいは定量を行う誘導結合プラズマ発光分光分析装置において、前記トーチのプラズマが形成される開口部下近傍中心に、光ファイバーの端面が固定されるように光ファイバーケーブルを前記トーチの軸方向に沿って設置し、前記トーチ側に放出されるプラズマ光を、前記光ファイバーケーブルを通して分光器に導くことを特徴とする誘導結合プラズマ発光分光分析装置。
IPC (2)：
G01N 21/73 ,  H05H 1/26
FI (2)：
G01N 21/73 ,  H05H 1/26
F-Term (6)：
2G043AA01 ,  2G043AA04 ,  2G043CA01 ,  2G043EA08 ,  2G043HA05 ,  2G043MA01
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (5)
  • 発光分光分析装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-300265   Applicant：株式会社島津製作所
  • プラズマ照射溶鋼直接分析装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-223927   Applicant：新日本製鐵株式会社
  • 特開昭62-225933
Show all

Return to Previous Page

TOP

BOTTOM