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J-GLOBAL ID：200903057480737617

液状試料の測定方法とそれに用いる試料ホルダおよびX線回折装置

Inventor： 依田 晴行 ,  菅原 成雄
Applicant, Patent owner： 株式会社村田製作所
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996190627
Publication number (International publication number)：1998038772
Application date： Jul. 19, 1996
Publication date： Feb. 13, 1998
Summary：

【要約】【課題】 比重の異なる物質を含む液状試料の正確な測定を実現し、迅速で測定値の精度が向上する液状試料の測定方法とそれに用いる試料ホルダおよびX線回折装置である。【解決手段】 所定の試料にX線を照射し、試料により回折されたX線の強度を測定して物質の分析を行うX線回折にあたり、試料測定面と重力方向とが平行な粉末X線回折装置を用いて、試料ホルダに比重の異なる物質を含む液状試料を充填、密閉し、前記試料ホルダを3回/秒以下(但し、0は除く)の回転速度で回転させ、これにより前記試料ホルダ内の前記液状試料を強制的に攪拌し前記液状試料を均質化する液状試料の測定方法とそれに用いる試料ホルダおよびX線回折装置である。

Claim (excerpt)：

所定の試料にX線を照射し、試料により回折されたX線の強度を測定して物質の分析を行うX線回折にあたり、試料測定面と重力方向とが平行な粉末X線回折装置を用いて、試料ホルダに比重の異なる物質を含む液状試料を充填、密閉し、前記試料ホルダを3回/秒以下(但し、0は除く)の回転速度で回転させ、これにより前記試料ホルダ内の前記液状試料を強制的に攪拌し前記液状試料を均質化することを特徴とする液状試料の測定方法。

IPC (3)：

G01N 1/28 ,  B01L 3/00 ,  G01N 23/207

FI (3)：

G01N 1/28 W ,  B01L 3/00 ,  G01N 23/207

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• X線回折装置の試料保持装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-013579   Applicant：理学電機株式会社
• 特開平1-105146
  
• 特開昭49-117089
  
• 特開昭63-153458