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J-GLOBAL ID：200903057529922385

周波数・方位測定方法及び装置

Inventor： 中村 由紀
Applicant, Patent owner： 日本電気株式会社
Agent (1)： 鈴木 康夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997190788
Publication number (International publication number)：1999023688
Application date： Jul. 02, 1997
Publication date： Jan. 29, 1999
Summary：

【要約】【課題】 各エレメントにタップドディレイラインが接続された任意形状のアレイアンテナを用いて、到来波間に完全な相関があるコヒーレント信号(マルチパス信号)を含む複数波の到来周波数及び方位を同時に測定する。【解決手段】 m個のエレメントを有し、遅延量Dのp個のタップを有するタップドディレイラインが接続されているアレイアンテナで受信した信号を受信データに変換するA/D変換器と受信データから共分散行列を求める回路とメモリに記録されたアレイマニフォルドデータよりウェイトベクトルを計算する回路とウェイトべクトルより評価関数を求める回路とを具備し、この評価関数を最大にする周波数・方位の組合せをサーチする。

Claim (excerpt)：

タップドディレイラインを有するアレイアンテナで受信した受信データから求めた共分散行列Xと、周波数f(fLOW〜fHIGH)及び方位θ(0〜360 ゚)に対する前記アレイアンテナの各エレメント及びタップの受信応答a(f,θ)(アレイマニフォルドデータ)より求めたウェイトべクトルWとから評価関数P(f,θ)を計算し、該評価関数のピーク値をサーチすることにより到来波の周波数及び方位を同時に測定することを特徴とする周波数・方位測定方法。

IPC (2)：

G01S 3/74 ,  G01S 3/14

FI (2)：

G01S 3/74 ,  G01S 3/14

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

• 方位測定方法及びその装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-135996   Applicant：日本電気株式会社