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J-GLOBAL ID：200903057576301321

粒度分布測定装置

Inventor： 島岡 治夫
Applicant, Patent owner： 株式会社島津製作所
Agent (1)： 杉谷 勉
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996170250
Publication number (International publication number)：1998019760
Application date： Jun. 28, 1996
Publication date： Jan. 23, 1998
Summary：

【要約】【課題】 測定試料の粒子についての相対屈折率の値変更に伴う粒度分布測定結果の出し直しを速やかに行える粒度分布測定装置を提供する。【解決手段】 レーザ光検出センサにより測定試料の粒子群についての光強度分布データを検出するとともに、粒度分布データ演算求出部14により光強度分布データと粒子の相対屈折率に基づき粒度分布データを求出してから粒度分布データに従って粒度分布測定結果をTVモニタ19に映像表示するよう構成された装置において、新たに指定された相対屈折率に基づく粒度分布データの再演算求出を複数の試料に対して同時に実行するとともに、得られた再求出結果に従って対応する粒度分布測定結果を自動的に更新する。

Claim (excerpt)：

測定試料である粒子群にレーザ光を照射する光照射手段と、前記粒子群による回折/散乱光を検出する光検出手段と、前記光検出手段から得られる回折/散乱光の空間的な光強度分布データと別途に指定される粒子の相対屈折率とに基づきデータ処理を行って前記試料についての粒度分布データを求出する演算求出手段と、演算求出された粒度分布データに従って得られる粒度分布測定結果を映像表示する映像表示手段とを備えている粒度分布測定装置において、粒度分布測定結果が既に得られた測定試料群の中から指定操作により選ばれた試料について、新たに指定された相対屈折率に基づく粒度分布データの再求出演算を実行するとともに、前記選ばれた試料の粒度分布測定結果を再求出結果に合わせて自動的に更新する粒度分布再求出手段を備えていることを特徴とする粒度分布測定装置。