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J-GLOBAL ID：200903057651145438

電磁雑音測定用磁界プローブ、電磁雑音測定用電界プローブ、及び電磁雑音測定装置

Inventor： 菅間 秀晃
Applicant, Patent owner： 神奈川県
Agent (1)： 石島 茂男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995077089
Publication number (International publication number)：1996248080
Application date： Mar. 09, 1995
Publication date： Sep. 27, 1996
Summary：

【要約】【目的】 小型軽量で外来ノイズの影響を受けない電磁雑音測定用磁界プローブと電磁雑音測定用電界プローブとを提供する。【構成】 表面と中間層と裏面とを有するプリント基板3、53の、前記表面と前記裏面とにシールド膜61、62、561、562を設け、前記中間層にコイルパターン9、又は電界検出パターン59を設け、該コイルパターン9又は該電界検出パターン59に磁束又は電磁波が到達できるように、前記シールド膜61、62、561、562にそれぞれ窓開け部111、112、611、621を設け、電磁雑音測定用磁界プローブ2と電磁雑音測定用電界プローブ52とを構成した。プリント基板で構成されているので小型、軽量にできて、プローブ走査装置114に取り付けられ、また、シールド性もよい。

Claim (excerpt)：

表面と中間層と裏面とを有するプリント基板の、前記表面と前記裏面とに外来電磁雑音を遮蔽するシールド膜が設けられ、前記中間層にコイルパターンが設けられ、該コイルパターン内を磁束が通るように前記シールド膜に窓開け部が設けられたことを特徴とする電磁雑音測定用磁界プローブ。

IPC (4)：

G01R 29/08 ,  G01R 31/00 ,  G01R 33/02 ,  H05K 1/16

FI (5)：

G01R 29/08 F ,  G01R 29/08 D ,  G01R 31/00 ,  G01R 33/02 B ,  H05K 1/16 B