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J-GLOBAL ID：200903057697145645

3次元位置・姿勢計測装置及び方法、記憶媒体、並びにコンピュータ・プログラム

Inventor： 阿部 友一 ,  今泉 竜一
Applicant, Patent owner： ソニー株式会社
Agent (1)： 宮田 正昭 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002057837
Publication number (International publication number)：2003254716
Application date： Mar. 04, 2002
Publication date： Sep. 10, 2003
Summary：

【要約】【課題】 オブジェクト表面上に配設された複数の光学情報源に基づいて、その位置や姿勢を磁界や気圧、温度などの影響を受けずに計測する。【解決手段】 物体に複数の光学的識別情報を取り付けて、2次元イメージ・センサによる撮影画像を利用して3次元的な位置や姿勢などの空間解像度を持つ物体認識を行なう。例えば板状の測定対象物体の表面に3点又は4点のマーカを配置して、撮像画像中でこれらマーカの位置を追跡する。そして、検出されたマーカの個数や位置関係に応じて、最適な3次元位置・姿勢推定アルゴリズムを選択して測定対象物体の3次元位置・姿勢の計測を行なう。

Claim (excerpt)：

現実空間上の物体の空間的な位置及び姿勢を推定する3次元位置・姿勢計測装置であって、測定対象物体上には互いの位置関係が既知である複数の光学的識別情報が配設されており、測定対象物体を含んだ現実空間上のシーンを捕捉する画像入力部と、前記画像入力部による入力画像から光学的識別情報を抽出する識別情報抽出部と、前記識別情報抽出部により抽出された光学的識別情報の状態に応じて測定対象物体の空間的位置及び姿勢を計算するための方法を選択する位置・姿勢計算方法選択部と、前記位置・姿勢計算方法選択部により選択された方法に従って、前記識別情報抽出部により抽出された光学的識別情報を用いて測定対象物体の空間的位置及び姿勢を計算する位置・姿勢計算部と、を具備することを特徴とする3次元位置・姿勢計測装置。

IPC (2)：

G01B 11/00 ,  G06T 1/00 315

FI (2)：

G01B 11/00 H ,  G06T 1/00 315

F-Term (18)：

2F065AA04 ,  2F065AA37 ,  2F065BB05 ,  2F065BB29 ,  2F065FF04 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065QQ31 ,  5B057AA20 ,  5B057BA02 ,  5B057CA12 ,  5B057CB13 ,  5B057CD14 ,  5B057CH01 ,  5B057CH14 ,  5B057CH16 ,  5B057DA07 ,  5B057DA16