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J-GLOBAL ID：200903057772891030

評価支援装置、評価支援方法、及び評価支援プログラム

Inventor： 杉本 公一 ,  高橋 修 ,  森山 昇
Applicant, Patent owner： 富士通株式会社
Agent (1)： 大菅 義之 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001393592
Publication number (International publication number)：2003196432
Application date： Dec. 26, 2001
Publication date： Jul. 11, 2003
Summary：

【要約】【課題】 偏った評価を排除し人又はものの適正な評価を支援することが可能な評価支援装置、評価支援方法、及び評価支援プログラムを提供すること。【解決手段】 評価者による被評価対象の評価点を入力する評価点入力手段と、上記評価点入力手段によって入力された評価点の偏差値を算出する偏差値算出手段と、上記偏差値算出手段によって算出された偏差値と所定値との相関値を算出する相関値算出手段と、上記相関値算出手段によって算出された相関値のうち、最も小さい相関値に対応する評価者に関する評価者情報を出力する評価者情報出力手段とを備える。

Claim (excerpt)：

評価支援装置において実行される評価支援方法であって、評価者による被評価対象の評価点と所定値との相関値を算出し、前記算出された相関値のうち、所定の閾値より小さい相関値に対応する評価者に関する評価者情報を求めることを特徴とする評価支援方法。

IPC (4)：

G06F 17/60 158 ,  G06F 17/15 ,  G06F 17/18 ,  G09B 19/00

FI (5)：

G06F 17/60 158 ,  G06F 17/15 ,  G06F 17/18 A ,  G06F 17/18 D ,  G09B 19/00 G

F-Term (4)：

5B056BB21 ,  5B056BB62 ,  5B056BB64 ,  5B056HH00

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

• 投票方式による評価支援方法およびシステム
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平10-278092   Applicant：沖電気工業株式会社