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J-GLOBAL ID：200903057865725083
共振器分散測定方法および装置
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
井出 直孝 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992206781
Publication number (International publication number)：1994050847
Application date： Aug. 03, 1992
Publication date： Feb. 25, 1994
Summary：
【要約】【目的】 レーザ共振器の波長分散をその共振器の構造に依存せず、しかも測定回路の応答時間にも依存せずに測定する。【構成】 被測定レーザ共振器101の発生する光束を、二つの腕の間の相対的光路長差107が被測定レーザ共振器101の共振器長の整数倍となる付近に設定されたマイケルソン干渉計102〜105に入射し、生じた干渉光の強度を光検出器108で測定し、相対的光路長差107の変化に対する干渉光強度の波形をフーリエ変換して被測定レーザ共振器101の波長分散特性を測定する。
Claim (excerpt)：
平行光束を二つの光束に分岐し、この二つの光束の一方を光路長が固定の第一の光路に伝搬させ、この二つの光束の他方を光路長が可変の第二の光路に伝搬させ、前記第一の光路を伝搬した光と前記第二の光路を伝搬した光とを合波して干渉させ、この干渉光の光強度を前記第二の光路の光路長を変化させながら測定し、測定された光強度をフーリエ変換して得られる周波数領域での位相情報から波長分散特性を求める共振器分散測定方法において、前記平行光束は測定対象のレーザ共振器から出射された光束であり、前記第一の光路と前記第二の光路との相対的光路長差がこのレーザ共振器の共振器長の零以外の整数倍となる近傍で前記第二の光路の光路長を変化させることを特徴とする共振器分散測定方法。
IPC (4)：
G01M 11/02
, G01M 11/00
, H01S 3/00
, H01S 3/101
