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J-GLOBAL ID：200903057909590890

穿刺ガイド付き超音波検査装置

Inventor： 田中 俊積
Applicant, Patent owner： 富士写真光機株式会社
Agent (1)： 影井 俊次
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991276420
Publication number (International publication number)：1993091998
Application date： Sep. 30, 1991
Publication date： Apr. 16, 1993
Summary：

【要約】【目的】 超音波検査装置とは別個のルートを介して穿刺針を挿通する際において、患部等への狙撃性を良好ならしめることにある。【構成】 挿入部12の先端硬質部12cに設けた光学観察機構13と超音波観察機構14との間の部位は前方に突出する突出部15が形成され、この突出部15にその厚み方向に、穿刺針2の針先2aをガイドするために、穿刺針2の外径より僅かに大きな内径を有するガイド孔16が穿設されており、光学観察機構13はこのガイド孔16における穿刺針2の導入側16aに位置し、超音波観察機構14は導出側16bに位置している。また、突出部15は、そのガイド孔16の穿刺針2の導入側16aの面は先端側に向けて立ち上がるように傾斜しており、これによって光学観察機構13の視野内にガイド孔16の導入側16aが光学観察視野内に入れることができるようになっている。従って、このガイド孔16に挿通された穿刺針2は、その先端部の近傍部位が規制されることになり、患部への指向性が極めて良好となる。

Claim (excerpt)：

挿入部の先端部に超音波観察機構を設けると共に、この超音波観察機構から前方に突出する突出部を設けて、この突出部に穿刺針をガイドするためのガイド孔を、前記超音波観察機構の配設側に導出側を向けた状態にして穿設することによって、この穿刺針の刺入位置を超音波観察視野内に収めることができる構成としたことを特徴とする穿刺ガイド付き超音波検査装置。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 特開昭62-074348
  
• 特開昭60-075025