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J-GLOBAL ID：200903057947237516

発光測定用のマイクロプレートおよび発光測定方法

Inventor： 小菅 信一 ,  高橋 彰 ,  石塚 健一 ,  高橋 靖
Applicant, Patent owner： リコー光学株式会社
Agent (1)： 樺山 亨 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001185373
Publication number (International publication number)：2003004629
Application date： Jun. 19, 2001
Publication date： Jan. 08, 2003
Summary：

【要約】【課題】クロストークを有効に軽減し、あるいは、蛍光や化学発光の微弱な発光を効率的に検出・測定することを可能ならしむるマイクロプレートを実現する。【解決手段】発光試料を収容するためのウェルWijを複数個、所定の配列に従って規則的に形成され、少なくとも各ウェルの底部が光透過性で、各ウェルにおける発光を光透過性の底部を介して測定するためのマイクロプレートにおいて、各ウェルWijの底部ごとに、正のパワーを持つレンズ面Lzijが形成されている。

Claim (excerpt)：

発光試料を収容するためのウェルを複数個、所定の配列に従って規則的に形成され、少なくとも各ウェルの底部が光透過性で、各ウェルにおける発光を上記光透過性の底部を介して測定するためのマイクロプレートにおいて、各ウェルの底部ごとに、正のパワーを持つレンズ面を形成されたことを特徴とする発光測定用のマイクロプレート。

IPC (2)：

G01N 21/03 ,  G01N 21/64

FI (2)：

G01N 21/03 Z ,  G01N 21/64 F

F-Term (22)：

2G043CA03 ,  2G043DA02 ,  2G043DA06 ,  2G043EA01 ,  2G043EA13 ,  2G043GA04 ,  2G043GB19 ,  2G043HA01 ,  2G043HA05 ,  2G043KA02 ,  2G043KA05 ,  2G043MA01 ,  2G057AA04 ,  2G057AA14 ,  2G057AC01 ,  2G057BA03 ,  2G057BB06 ,  2G057DA01 ,  2G057DA03 ,  2G057DA04 ,  2G057DB01 ,  2G057DB05