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J-GLOBAL ID：200903057955809634

蛍光X線分析方法及びその装置

Inventor： 脇阪 達司 ,  若狭 正信 ,  田中 正次 ,  森田 尚喜 ,  西萩 一夫 ,  寺田 慎一
Applicant, Patent owner： 花王株式会社 ,  株式会社テクノス
Agent (1)： 細田 芳徳
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992350602
Publication number (International publication number)：1994174664
Application date： Dec. 03, 1992
Publication date： Jun. 24, 1994
Summary：

【要約】【構成】分光結晶により単色化したX線を試料に照射し、発生する特性X線を半導体検出器で検出して重金属元素を定量する蛍光X線分析方法において、照射X線の波長域が異なる一対のX線照射源と分光結晶よりなるX線照射手段を複数設け、各々から順次X線を照射することにより、複数の分析対象元素を定量することを特徴とする蛍光X線分析方法、並びにこれに用いる蛍光X線分析装置。【効果】本発明の蛍光X線分析方法は、試料の前処理等の必要がなく迅速な分析が可能であり、複数の重金属元素が一度に分析でき、かつ検出下限にも優れる。従って、これを利用した本発明の蛍光X線分析装置は、化粧品、医薬品、部外品、食品等の分野において特に有用なものである。

Claim (excerpt)：

分光結晶により単色化したX線を試料に照射し、発生する特性X線を半導体検出器で検出して重金属元素を定量する蛍光X線分析方法において、照射X線の波長域が異なる一対のX線照射源と分光結晶よりなるX線照射手段を複数設け、各々から順次X線を照射することにより、複数の分析対象元素を定量することを特徴とする蛍光X線分析方法。