Pat

J-GLOBAL ID：200903057974157010

サンプルの化学物性測定装置

Inventor： 本城 充 ,  吉岡 伸樹
Applicant, Patent owner： 株式会社堀場製作所
Agent (1)： 藤本 英夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001401710
Publication number (International publication number)：2003202319
Application date： Dec. 28, 2001
Publication date： Jul. 18, 2003
Summary：

【要約】【課題】 サンプルの形状や量に関わらず測定可能であり、かつ、サンプルが液状、ゲル状である場合のみならず、小さな固形物であっても水滴を混ぜることで測定が可能となるサンプルの化学物性測定装置を提供する。【解決手段】 液体または測定対象を水などで湿らせたサンプルSに接触する測定電極6と、この測定電極6に対向した状態で近接する比較電極8と、両電極6,8の間に挟み込まれたサンプルSの化学物性を算出するCPU4などの信号処理装置を有する装置本体2とを備えた。

Claim (excerpt)：

サンプルに接触する測定電極と、この測定電極に対向した状態で近接する比較電極と、両電極間に挟み込まれたサンプルの化学物性を算出する演算手段を有する装置本体とを備えたことを特徴とするサンプルの化学物性測定装置。

IPC (4)：

G01N 27/416 ,  G01N 27/28 301 ,  G01N 27/28 341 ,  G01N 27/414

FI (5)：

G01N 27/28 301 Z ,  G01N 27/28 341 Z ,  G01N 27/46 361 Z ,  G01N 27/30 301 U ,  G01N 27/46 353 Z

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (4)

• 特開平2-156147
  
• 特開昭61-251758
  
• 特開昭58-215546
  
• 特開昭59-126943
  

Cited by examiner (5)

• 特開平2-156147
  
• 特開平2-156147
  
• 特開昭61-251758
  
• 特開昭58-215546
  
• 特開昭59-126943