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J-GLOBAL ID：200903058037494350

表面電荷に起因する移動度及び効果

Inventor：
フレイザ キース マック.ネイル-ワトソン

About フレイザ キース マック.ネイル-ワトソン

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マルカム トラバー コナ

About マルカム トラバー コナ


Applicant, Patent owner：
マルベルン インスツルメンツ リミテッド

About マルベルン インスツルメンツ リミテッド


Agent (1)： 飯田 伸行
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001134510
Publication number (International publication number)：2002005888
Application date： May. 01, 2001
Publication date： Jan. 09, 2002
Summary：
【要約】【課題】 毛管セルを用いて粒子の速度分布を測定する方法において電気浸透流れの影響を排除すること。【解決手段】 分散液(76)中の粒子(78)又はセル壁の電荷関連特性又は電荷誘導パラメータを自動的に算定するための方法及び装置を提供する。粒子含有分散液(76)をセル(52)内に供給する。分散液を光源からの光で照射し、記粒子から散乱した光を検出空間から検出する。分散液(76)に第1の電場方向切換周波数で電場を印加し、次いで、分散液(76)に第2の電場方向切換周波数で電場を印加する。第1周波数で電場が印加されたときに散乱光から検出された信号を用いて粒子の速度分布に関連した第1の値を得る。第2周波数で電場が印加されている間に散乱光から導出された第2の速度関連信号又は値を用いて粒子速度関連分布を修正する。第1周波数は、粒子速度関連値の分布の許容し得る解像度を得るのに十分に低い周波数とする。
Claim (excerpt)：
分散液中の粒子又はセルの壁の電荷関連特性又は電荷誘導パラメータを自動的に算定する方法であって、粒子含有分散液をセル内に供給する工程と、該分散液を光源からの光で照射する工程と、前記粒子から散乱した光を検出空間から検出する工程と、前記分散液に第1の電場方向切換周波数で電場を印加する工程と、該分散液に第2の電場方向切換周波数で電場を印加する工程と、前記第1周波数で電場が印加されたときに前記散乱光から検出された信号を用いて前記粒子の速度分布に関連した第1の値を得る工程と、前記第2周波数で電場が印加されている間に散乱光から導出された第2の速度関連信号又は値を用いて前記速度分布に関連した第1の値を修正し、修正された粒子速度関連分布を創生する工程とから成り、前記第1周波数は、粒子速度関連値の分布の許容し得る解像度を得るのに十分に低い周波数とすることを特徴とする算定方法。
IPC (3)：
G01N 27/447 ,  G01N 15/14 ,  G01N 21/49
FI (6)：
G01N 15/14 P ,  G01N 21/49 Z ,  G01N 27/26 331 B ,  G01N 27/26 331 K ,  G01N 27/26 331 Z ,  G01N 27/26 331 A
F-Term (15)：
2G059AA05 ,  2G059BB12 ,  2G059CC16 ,  2G059EE02 ,  2G059FF08 ,  2G059GG01 ,  2G059GG06 ,  2G059JJ22 ,  2G059KK01 ,  2G059MM01 ,  2G059MM03 ,  2G059MM09 ,  2G059MM10 ,  2G059MM17 ,  2G059PP04
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (3)
  • 特開昭62-284254
  • 特開昭52-145291
  • 特表平2-501087
Cited by examiner (3)
  • 特開昭62-284254
  • 特開昭52-145291
  • 特表平2-501087
Article cited by the Patent：
Cited by applicant (1) Cited by examiner (1)

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