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J-GLOBAL ID：200903058092964535

ガス濃度測定方法および装置

Inventor： 森谷 誠 ,  指方 順一郎
Applicant, Patent owner： 日本酸素株式会社
Agent (1)： 志賀 正武 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993115071
Publication number (International publication number)：1995020075
Application date： May. 17, 1993
Publication date： Jan. 24, 1995
Summary：

【要約】【目的】混合ガス中の成分ガスの濃度を正確に測定する。【構成】混合ガス中の成分ガス数と同数の検出器を用いて各成分ガスの濃度を測定する方法において、前記成分ガス(Xj)(但し、jは1〜n、以下同様)に対しそれぞれ独立した検出特性を有する検出器(Ai)(但し、iは1〜n、以下同様)を用い、かつ、前記各成分ガス(Xj)が単独で存在するときの検出器(Ai)の単位濃度当たりの検出値mijを予め求め、混合ガス測定時における検出器A1,A2,A3,...,Anの検出値y1,y2,y3,...,ynを用いて所定の式から各成分ガスX1,X2,X3,...,Xnの濃度α1,α2,α3,...,αnを求めることを特徴とするガス濃度測定方法。

Claim (excerpt)：

混合ガス中の成分ガス数と同数の検出器を用いて各成分ガスの濃度を測定する方法において、前記成分ガス(Xj)(但し、jは1〜n、以下同様)に対しそれぞれ独立した検出特性を有する検出器(Ai)(但し、iは1〜n、以下同様)を用い、かつ、前記各成分ガス(Xj)が単独で存在するときの検出器(Ai)の単位濃度当たりの検出値mijを予め求め、混合ガス測定時における検出器A1,A2,A3,...,Anの検出値y1,y2,y3,...,ynを用いて以下に示す式から各成分ガスX1,X2,X3,...,Xnの濃度α1,α2,α3,...,αnを求めることを特徴とするガス濃度測定方法。【数1】