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J-GLOBAL ID：200903058218748680

パターン濃度検査方法

Inventor： 脇谷 康一 ,  横山 晴彦
Applicant, Patent owner： 松下電器産業株式会社
Agent (1)： 石原 勝
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996330713
Publication number (International publication number)：1998171991
Application date： Dec. 11, 1996
Publication date： Jun. 26, 1998
Summary：

【要約】【課題】 判定結果と目で見た感じとが一致し、しかも、迅速に検査できるパターン濃度検査方法の提供。【解決手段】 文字・記号からなる捺印パターンのパターン濃度検査方法において、検査すべき捺印パターンを撮像し、各文字・記号毎に、所定間隔を設けた代表走査線が各文字・記号の輪郭線内に連続して重なる部分をラン1として設定し、設定した各ラン1の中心画素をその文字・記号の捺印濃度を代表する複数の代表画素1aとし、各文字・記号毎に前記複数の代表画素1aの濃度値の平均値を計算し、各文字・記号毎に前記の計算した濃度値の平均値が予め設定してある許容濃度範囲から外れる場合にその文字・記号の捺印濃度を不良と判定することを特徴とする。

Claim (excerpt)：

文字・記号からなる捺印パターンのパターン濃度検査方法において、検査すべき捺印パターンを撮像し、各文字・記号毎に文字・記号の輪郭線内にその文字・記号の捺印濃度を代表する複数の代表画素を設定し、各文字・記号毎に前記複数の代表画素の濃度値の平均値を計算し、各文字・記号毎に前記の計算した濃度値の平均値が予め設定してある許容濃度範囲から外れる場合にその文字・記号の捺印濃度を不良と判定することを特徴とするパターン濃度検査方法。

IPC (3)：

G06T 7/00 ,  G01N 21/88 ,  G06K 9/38

FI (3)：

G06F 15/62 410 A ,  G01N 21/88 J ,  G06K 9/38 K