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J-GLOBAL ID：200903058256509249
電磁波の偏光特性を利用した非破壊検査装置
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
,
Agent (1)：
三好 秀和
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2007139706
Publication number (International publication number)：2008268164
Application date： Apr. 24, 2007
Publication date： Nov. 06, 2008
Summary：
【課題】 木材や繊維強化プラスチック(FRP)などに代表される繊維構造などからなる異方性を内在する部材、あるいは異方性を持たない素材の物質であっても応力によって生じた変形を有する可能性のある部材に、偏光した電磁波を照射し、その透過もしくは反射画像イメージングを行い、部材内部の繊維方向や欠陥の発生や変形などの構造欠陥の検出を行い得る非破壊検査装置を提供する。【解決手段】 発振素子として10GHzから10THzの発振周波数を持ち、偏光特性を有するダイオード発振素子を用いることにより、電磁波を被測定物に透過させ物質中に介在する異方性領域を高感度に検出するものであり、従来検出が難しかった物質中の歪み、および構造欠陥の検出を容易にし、またこれまでのテラヘルツイメージングシステムの大型化、複雑化あるいは高価格化といった問題点も解決するものである。【選択図】図3
Claim (excerpt)：
ダイオード発振素子によって構成される10GHz-10THzの範囲の所定周波数の電磁波発生源を用い、前記発振素子より発せられる偏光電磁波、もしくは無偏光の電磁波源については偏光手段を具備し、試料位置を走査しながら試料微小部分に前記電磁波を照射し電磁波の透過強度あるいは反射強度を測定し、前記試料内部の異方性を反映した透過あるいは反射イメージング画像を得ることにより、試料中の異方性検出、構造欠陥検出、内在物質の分布、あるいは応力によって生じた変形の検出を行うことを特徴とした電磁波の偏光特性を利用した非破壊検査装置。
IPC (1)：
FI (4)：
G01N22/00 B
, G01N22/00 R
, G01N22/00 U
, G01N22/00 S
