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J-GLOBAL ID：200903058326266101
超音波応用測定装置
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
河野 登夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992100497
Publication number (International publication number)：1993273181
Application date： Mar. 25, 1992
Publication date： Oct. 22, 1993
Summary：
【要約】【目的】 被測定材中にて超音波の伝播時間の測定値に誤差が生じたことを検出し、これを補正して測定精度を高める。【構成】 試料Aの圧延方向及びこれに直交する方向に配された探触子11,13の送受信プローブ11a,11b ・13a,13b 間の距離の2倍の距離にその送受信プローブ12a ,12b が配された45°方向の探触子12によって、ゼロクロス法等による試料A中での超音波の伝播時間の変化幅を拡大して誤差の発生を検出し、この誤差を補正して伝播時間の測定精度を高める。
Claim (excerpt)：
送信プローブが発生した超音波の被測定材中における伝播時間を、前記超音波の複数の伝播方向にそれぞれ配された受信プローブで測定し、前記複数の伝播方向における伝播時間に基づいて前記被測定材の特性を測定する超音波応用の測定装置において、一伝播方向を除く伝播方向の各受信プローブが前記送信プローブから同一距離に配されるとともに前記一伝播方向の受信プローブが前記送信プローブから前記同一距離のn倍(但し、n>1)の距離に配されてなり、予め求められた、前記伝播方向それぞれにおける伝播時間の基準値を記憶する手段と、該基準値と前記伝播方向それぞれにおける受信プローブの測定値との比較結果に応じて前記一伝播方向における測定値を補正する手段とを備えたことを特徴とする超音波応用測定装置。
IPC (2)：
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