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J-GLOBAL ID:200903058331789546

ハーフトーン位相シフトマスクの構造及びその製造方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 山川 政樹
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1996339123
Publication number (International publication number):1997281690
Application date: Dec. 05, 1996
Publication date: Oct. 31, 1997
Summary:
【要約】【課題】 本発明は、位相シフトマスクに関するものであって、正確なパターンを形成できるハーフトーン位相シフトマスク構造とその製造方法を開示する。【解決手段】 基板の複数個のキーパターン等にの間には光を遮断する特性を有する第1遮光部を形成させ、複数個のセルパターンを形成させる領域には光を一部透過させる特性を有する第2遮光部を形成する。
Claim (excerpt):
基板の一領域で複数のキーパターンを形成させる領域のキーパターン間に設けた光を遮断する特性を有する第1遮光部と、上記基板の他の領域で、複数個のセルパターンを形成させる領域に光を一部透過させる特性を有する第2遮光部を形成させたことを特徴とするハーフトーン位相シフトマスク。
IPC (2):
G03F 1/08 ,  H01L 21/027
FI (3):
G03F 1/08 A ,  H01L 21/30 502 P ,  H01L 21/30 528

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