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J-GLOBAL ID：200903058404027437

強度変調光を用いて散乱媒質を検査する方法

Inventor： マチアス エッセンプライス ,  ハンス-ペーター ハール ,  ジルク ベッカー ,  アレクサンダー クヌエッテル
Applicant, Patent owner： ベーリンガー・マンハイム・ゲゼルシャフト・ミット・ベシュレンクテル・ハフツング
Agent (1)： 朝日奈 宗太 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995322890
Publication number (International publication number)：1996254497
Application date： Dec. 12, 1995
Publication date： Oct. 01, 1996
Summary：

【要約】【課題】 測定器の精度を限定することなく、電子工学的な支出を減少させることができる、散乱物質を検査する方法を提供する。【解決手段】 散乱媒質を検査する方法であって、高周波数の変調信号が周波数発生器18から発生され、発光器10の光の強度が前記変調信号によって変化させられ、前記発光器からの光が前記媒質に照射され、前記変調信号は周波数チャープからなり、前記変調信号は前記周波数発生器18から、少なくとも2個の互いに異なる信号パス23A、24を経由して信号ミキサ31に伝達され、このため周波数チャープのあいだに前記信号ミキサの入力信号が差周波数だけ異なり、前記差周波数の量は、前記信号パス23A、24の信号走行時間のあいだの差と、前記変調周波数の変化率との関数であり、測定信号パス23Aとしての少なくとも1個の信号パスは、前記媒質を透過する光路部分20Aを含んでいる。

Claim (excerpt)：

強度変調光を用いて散乱媒質を検査する方法であって、高周波数の変調信号が周波数発生器(18)から発生され、発光器(10)の光の強度が前記変調信号によって変化させられ、前記発光器(10)からの光が前記媒質に照射され、前記変調信号は周波数チャープからなり、該周波数チャープのあいだ変調周波数は初期周波数から最終周波数へと遷移させられ、前記変調信号は前記周波数発生器(18)から、少なくとも2個の互いに異なる信号パス(23A、24)を経由して信号ミキサ(31)に伝達され、このため周波数チャープのあいだに前記信号ミキサ(31)の入力信号が差周波数だけ異なり、前記差周波数の量は、前記少なくとも2個の信号パス(23A、24)の信号走行時間のあいだの差と、前記変調周波数の変化率との関数であり、測定信号パス(23A)としての少なくとも1個の信号パスは、前記媒質を透過する光路部分(20A)を含んでおり、かつ信号ミキサ(31)の出力信号はさらに散乱媒質についての情報を提供するように処理されることを特徴とする方法。

IPC (5)：

G01N 21/49 ,  A61B 5/14 310 ,  G01N 21/27 ,  G01N 21/41 ,  G01N 33/483

FI (5)：

G01N 21/49 A ,  A61B 5/14 310 ,  G01N 21/27 B ,  G01N 21/41 Z ,  G01N 33/483