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J-GLOBAL ID：200903058441096350

歪み量測定システム

Inventor：
牧 達幸

About 牧 達幸


Applicant, Patent owner：
アンリツ株式会社

About アンリツ株式会社


Agent (22)： 鈴江 武彦 ,  河野 哲 ,  中村 誠 ,  蔵田 昌俊 ,  福原 淑弘 ,  峰 隆司 ,  白根 俊郎 ,  村松 貞男 ,  野河 信久 ,  幸長 保次郎 ,  河野 直樹 ,  砂川 克 ,  勝村 紘 ,  橋本 良郎 ,  風間 鉄也 ,  河井 将次 ,  佐藤 立志 ,  岡田 貴志 ,  堀内 美保子 ,  竹内 将訓 ,  市原 卓三 ,  山下 元
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2007324879
Publication number (International publication number)：2008083067
Application date： Dec. 17, 2007
Publication date： Apr. 10, 2008
Summary：
【課題】多数の歪み量を、ファイバ歪計を用いて簡単に測定する。【解決手段】入射光に対する反射光の波長の反射中心波長からのずれ量が測定対象から印加された歪み量に応じて変化するFBGを用いたファイバ歪計13と、各ファイバ歪計がそれぞれ光カプラ14を介して接続された光ファイバ12と、光ファイバの一端から反射中心波長に対して微少波長ずれた測定波長のパルス波形を有した測定光cを印加する狭帯域光源11と、光ファイ及びファイバ歪計の測定光に対する反射光特性fを測定する特性測定部24と、反射光特性における各ファイバ歪計の反射光レベルの該当ファイバ歪計に歪みを印加していない状態における基準の反射光レベルからの変化量から、各ファイバ歪計に印加された歪み量を算出する歪み量算出手段32と、算出された各歪み量を出力する歪み量出力手段34とを備えている。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
互いに離間した各測定対象に設けられ、入射光に対する反射光の波長の反射中心波長からのずれ量が測定対象から印加された歪み量に応じて変化するFBG(ファイバブラッググレーティング)を用いたファイバ歪計(13)と、 前記各ファイバ歪計がそれぞれ光カプラ(14)を介して接続された光ファイバ(12)と、 この光ファイバの一端から前記反射中心波長に対して微少波長ずれた測定波長のパルス波形を有した測定光を印加する狭帯域光源(11)と、 前記光ファイバ及び前記ファイバ歪計の前記測定光に対するフレネル反射光特性を測定する特性測定部(24)と、 この特性測定部で得られたフレネル反射光特性における各ファイバ歪計の反射光レベルの該当ファイバ歪計に歪みを印加していない状態における基準の反射光レベルからの変化量から、各ファイバ歪計に印加された歪み量を算出する歪み量算出手段(32)と、 この歪み量算出部で算出された各ファイバ歪計に印加された歪み量を出力する歪み量出力手段(34)と を備えたことを特徴とする歪み量測定システム。
IPC (2)：
G01B 11/16 ,  G01D 5/353
FI (2)：
G01B11/16 G ,  G01D5/26 D
F-Term (21)：
2F065AA65 ,  2F065BB12 ,  2F065CC23 ,  2F065DD02 ,  2F065DD06 ,  2F065EE00 ,  2F065EE03 ,  2F065FF41 ,  2F065FF48 ,  2F065GG23 ,  2F065LL02 ,  2F065LL67 ,  2F065QQ03 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ42 ,  2F103BA41 ,  2F103BA43 ,  2F103CA04 ,  2F103EB05 ,  2F103EC09 ,  2F103EC10
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (1)

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