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J-GLOBAL ID：200903058450856197

断層撮影装置

Inventor： 森田 英一
Applicant, Patent owner： 株式会社島津製作所
Agent (1)： 杉谷 勉
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001107010
Publication number (International publication number)：2002303592
Application date： Apr. 05, 2001
Publication date： Oct. 18, 2002
Summary：

【要約】【課題】 回転走査運動の回転中心軸が投影される検出器の検出画素の位置を迅速に算出できる断層撮影装置を提供する。【解決手段】 演算部53は、テーブル4上の回転中心付近に設置されたファントムFが回転走査における第1角度位置にある状態でファントムFを撮影した第1検出データと、ファントムFが第1角度位置とは逆位相となる第2角度位置にある状態でファントムFを撮影した第2検出データとに基づいて、回転走査中心軸Zが投影される検出器3の検出素子2の位置を算出するので、ファントムFを、ある角度とそこから180°回転した角度の2回分についてのみ撮影した2つの透過X線検出データを演算処理するだけでよく、迅速に検出器3における回転中心を求めることができる。

Claim (excerpt)：

(a)被検体に対して透過性を有する電磁波を被検体に照射する照射源と、(b)被検体を挟んで前記照射源に対向配置され、並設された複数個の検出画素によって被検体を透過した電磁波を検出する検出器と、(c)被検体を設置する設置台とを有し、(d)前記照射源および前記検出器と前記設置台とを相対的に被検体周りに回転走査させて断層撮影する断層撮影装置において、(e)前記設置台上の回転中心付近に設置された被試験体が回転走査における第1角度位置にある状態でこの被試験体を撮影した第1検出データと、前記被試験体が第1角度位置とは逆位相となる第2角度位置にある状態でこの被試験体を撮影した第2検出データとに基づいて、回転中心軸が投影される前記検出器の検出画素の位置を算出する演算部を備えたことを特徴とする断層撮影装置。

IPC (4)：

G01N 23/04 ,  A61B 6/03 ,  A61B 6/03 320 ,  A61B 6/03 321

FI (4)：

G01N 23/04 ,  A61B 6/03 F ,  A61B 6/03 320 Y ,  A61B 6/03 321 J

F-Term (27)：

2G001AA01 ,  2G001BA01 ,  2G001CA01 ,  2G001DA01 ,  2G001DA08 ,  2G001DA09 ,  2G001FA06 ,  2G001GA13 ,  2G001HA01 ,  2G001HA13 ,  2G001HA14 ,  2G001JA01 ,  2G001JA06 ,  2G001JA08 ,  2G001JA11 ,  2G001JA13 ,  2G001KA03 ,  2G001LA01 ,  2G001LA11 ,  2G001PA12 ,  4C093AA22 ,  4C093BA03 ,  4C093CA28 ,  4C093EB12 ,  4C093EB17 ,  4C093EB18 ,  4C093FD11