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J-GLOBAL ID：200903058451466821

ソフトウェアのテストプロセス評価方式及びテストプロセス評価方法

Inventor： 小泉 毅 ,  熊谷 馨
Applicant, Patent owner： キヤノン株式会社
Agent (1)： 丹羽 宏之 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001150970
Publication number (International publication number)：2002342118
Application date： May. 21, 2001
Publication date： Nov. 29, 2002
Summary：

【要約】【課題】 評価対象のソフトウェアに対する評価の量とその評価量に対して発見される障害の関係をモデル化した信頼度成長モデルを用いるソフトウェアのテストプロセス評価方式において、テストプロセスの初期段階で確定した信頼度成長モデルが得られるようにする。【解決手段】 モデル係数入力部300によりモデル係数の一部を指定し、その指定したモデル係数を基に、モデル推定値算出部500により実測値に最も適合するモデルの全係数を確定する。そして、確定した信頼度成長モデルを用いてソフトウェアのテストプロセスを評価する。

Claim (excerpt)：

評価対象のソフトウェアに対する評価の量とその評価量に対して発見される障害の関係をモデル化した信頼度成長モデルを用いるソフトウェアのテストプロセス評価方式であって、前記信頼度成長モデルの係数の一部分を指定する指定手段と、該指定したモデルの係数を基に実測値に最も適合するモデルの全係数を確定する確定手段とを備えたことを特徴とするソフトウェアのテストプロセス評価方式。

F-Term (2)：

5B042HH00 ,  5B042HH19