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J-GLOBAL ID：200903058561510770
電解質膜評価装置および評価方法
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
田渕 経雄
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002064195
Publication number (International publication number)：2003264001
Application date： Mar. 08, 2002
Publication date： Sep. 19, 2003
Summary：
【要約】【課題】 電解質膜の吸水特性とプロトン伝導度との両方を、同時に測定できる電解質膜の評価装置および評価方法の提供。【解決手段】 (1)測定対象31に対して流体33、34を供給する流体供給手段32と、測定対象の流体吸着量を測定する吸着量測定手段51と、測定対象のプロトン伝導度を測定する伝導度測定手段52と、を有する電解質膜評価装置30。(2)測定対象が電解質膜である。(3)流体が水蒸気である。(4)測定条件を変更する測定条件変更手段33、34、59を備えている。(5)同条件下に配置された1以上の電解質膜に対して、流体吸着量を測定する手段とプロトン伝導度を測定する伝導度測定手段とを有する。(6)上記装置を用いた電解質膜の評価方法。
Claim (excerpt)：
測定対象に対して流体を供給する流体供給手段と、測定対象の流体吸着量を測定する吸着量測定手段と、測定対象のプロトン伝導度を測定する伝導度測定手段と、を有する電解質膜評価装置。
IPC (5)：
H01M 8/04
, G01N 5/02
, G01N 27/04
, H01M 8/02
, H01M 8/10
H01M 8/04 Z
, G01N 5/02 Z
, G01N 27/04 Z
, H01M 8/02 P
, H01M 8/10
2G060AA08
, 2G060AA20
, 2G060AE40
, 2G060AF08
, 5H026AA06
, 5H026CX05
, 5H027AA06
