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J-GLOBAL ID:200903058570423308

間期核の蛍光インサイチューハイブリダイゼーションによって染色体間不均衡を検出する方法およびシステム

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (3): 清水 初志 ,  橋本 一憲 ,  新見 浩一
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):2003510458
Publication number (International publication number):2004535807
Application date: Jul. 03, 2002
Publication date: Dec. 02, 2004
Summary:
本発明は、以下の相を含む、間期核上での蛍光プローブのインサイチューハイブリダイゼーションによって染色体不均衡を検出するシステムに関する;異なる二つの染色体上で蛍光プローブをインサイチューでハイブリダイズさせる段階;それぞれのプローブを異なる蛍光色素に曝露する段階;測定が、対照細胞集団において、および検出を行う細胞集団において行われる、このように曝露されたそれぞれのプローブにそれぞれ対応するシグナル強度を核の集合体上で測定する段階;比の計算が、参照比を提供するための前記対照細胞集団および検出を行う前記集団について行われる、プローブのそれぞれに対応するシグナル間の比を計算する段階;検出を行う集団に対応する蛍光比を参照比と比較する段階;および比較の結果を処理して、染色体間不均衡を検出する段階。
Claim (excerpt):
以下の相を含む、間期核に対する蛍光インサイチューハイブリダイゼーションによって染色体間不均衡を検出する方法: - 異なる二つの染色体上で蛍光プローブをインサイチューでハイブリダイズさせる段階、 - 異なる蛍光色素によってそれぞれのプローブを可視化する段階、 - 測定が最初に対照細胞集団において行われ、次に、検出すべき細胞集団において行われる、一組の核においてこのように可視化されたそれぞれのプローブにそれぞれ対応するシグナル強度を測定する段階、 - 比の計算が最初に、参照比を提供するために対照細胞集団について行われ、次に検出すべき細胞集団について行われる、プローブにそれぞれ対応するシグナル間の比を計算する段階、 - 検出すべき細胞集団に対応するシグナル間の比を参照比と比較する段階、および - 染色体間不均衡を検出するためにこの比較結果を処理する段階。
IPC (8):
C12Q1/68 ,  C12N15/09 ,  C12Q1/02 ,  G01N21/64 ,  G01N21/78 ,  G01N33/483 ,  G01N33/53 ,  G01N33/566
FI (9):
C12Q1/68 A ,  C12Q1/02 ,  G01N21/64 E ,  G01N21/64 F ,  G01N21/78 C ,  G01N33/483 C ,  G01N33/53 M ,  G01N33/566 ,  C12N15/00 A
F-Term (50):
2G043AA03 ,  2G043BA16 ,  2G043DA02 ,  2G043DA05 ,  2G043EA01 ,  2G043GA02 ,  2G043GA07 ,  2G043GB18 ,  2G043GB19 ,  2G043HA01 ,  2G043JA02 ,  2G043JA03 ,  2G043KA02 ,  2G043LA03 ,  2G043MA01 ,  2G043NA01 ,  2G043NA02 ,  2G043NA05 ,  2G045AA24 ,  2G045CB01 ,  2G045DA13 ,  2G045FA11 ,  2G045FB07 ,  2G054AA06 ,  2G054BA04 ,  2G054CA21 ,  2G054CE02 ,  2G054GA04 ,  4B024AA11 ,  4B024CA04 ,  4B024CA05 ,  4B024CA06 ,  4B024CA09 ,  4B024HA08 ,  4B024HA12 ,  4B024HA14 ,  4B063QA01 ,  4B063QA18 ,  4B063QQ03 ,  4B063QQ42 ,  4B063QR08 ,  4B063QR32 ,  4B063QR42 ,  4B063QR56 ,  4B063QR77 ,  4B063QR82 ,  4B063QS25 ,  4B063QS34 ,  4B063QS36 ,  4B063QX02
Article cited by the Patent:
Cited by examiner (2)

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