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J-GLOBAL ID：200903058572886232
光CT装置のデータ処理方法
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
野口 繁雄
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994055022
Publication number (International publication number)：1995239299
Application date： Feb. 28, 1994
Publication date： Sep. 12, 1995
Summary：
【要約】【目的】 吸収係数μaの分布を画像として出力するのを短時間の繰返し計算で行ないうるようにする。【構成】 被検体の1つの断面の周囲でX線CTやMRIによる測定を行なうとともに、光CT装置による測定も行なう。解を表わすベクトルPの初期値としてP1を仮定する。初期値P1は散乱係数μsの分布をX線CTやMRIによる測定値とし、吸収係数μaを例えば全て「0.1」と仮定したものである。解を与えるベクトルPを求める演算ては、初期値P1から出発してベクトルPのうち各領域の吸収係数μaのみを1つずつ微少変化させながら、測定値と観測値の差の絶対値が一定値以下に収斂するまで反復法により計算を繰り返す。
Claim (excerpt)：
被検体である生体の1つの断面の周囲の一点から測定光を照射し、被検体による測定光の拡散透過散乱光を、被検体のその断面の周囲の他の複数の位置で受光するとともに、測定光の照射位置を被検体のその断面の周囲で移動させていく光CT装置において、以下のステップを含んで前記断面を画像化するデータ処理方法。(A)被検体の散乱係数のみを検出しうる散乱係数検出手段により前記断面の散乱係数の分布を測定するステップ、(B)可視又は近赤外の測定光の照射点を前記断面の周囲に沿って1周させ、拡散透過散乱光を測定して測定値を得るステップ、(C)前記断面を複数の領域に分割し、各領域を吸収係数μaと散乱係数μsの2つのパラメータで表現するとともに、吸収係数μaの初期値を適当に与え、散乱係数μsの初期値として前記散乱係数検出手段により得られた散乱係数測定値を与えて断面画像初期値とするステップ、(D)前記断面画像初期値を用いて測定光に対する観測値を算出するステップ、(E)算出された観測値と測定光による測定値との差を求めるステップ、(F)散乱係数μsは変化させないで、前記差が予め定められた差以下になるように、各領域の吸収係数μaを変化させていくステップ、(G)前記差が一定値以下になったところで、前記断面の少なくとも吸収係数μaの分布を画像として出力するステップ。
IPC (2)：
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