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J-GLOBAL ID：200903058599685310

太陽電池の性能評価装置および性能評価方法

Inventor：
柳澤 武

About 柳澤 武


Applicant, Patent owner：
独立行政法人産業技術総合研究所

About 独立行政法人産業技術総合研究所


Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003026597
Publication number (International publication number)：2004241449
Application date： Feb. 04, 2003
Publication date： Aug. 26, 2004
Summary：
【課題】集積型薄膜太陽電池の内部の特性ばらつきや局部的な欠陥を検出できるようにする。【解決手段】暗ボックス2内には、集積型薄膜太陽電池が載置されるステージが設置されており、ステージ上には、集積型薄膜太陽電池上をライン状に照射することのできる測定用電極をかねたライン構造光源8が、ステップ駆動部によりステップ移動できるように設置されている。ライン構造光源8の長手方向は、集積型薄膜太陽電池のセルの直列接続方向である。ライン構造光源8は、ステップ駆動部により、太陽電池受光面の端から端までステップ状に送られ、ライン構造光源8の停止位置毎に集積型薄膜太陽電池の光照射部分の電流-電圧特性が測定される。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
スポット光照射手段と、前記スポット光照射手段を囲み先端部が太陽電池の光照射面と接触することができる第1の電極部とを有する第1の接触部材と、前記第1の電極部と同等の外形形状を有し該第1の電極部と対向して配備されその先端部が太陽電池の前記第1の電極部の接触部の裏面側と接触することのできる第2の電極部を有する第2の接触部材と、太陽電池を保持する太陽電池保持部材と、前記第1および前記第2の電極部と接続されてスポット光下の太陽電池の回路短絡電流または回路開放電圧または電流-電圧特性を測定する測定部と、を有する太陽電池の性能評価装置。
IPC (2)：
H01L31/04 ,  G01R31/26
FI (2)：
H01L31/04 K ,  G01R31/26 F
F-Term (8)：
2G003AA06 ,  2G003AA10 ,  2G003AB01 ,  2G003AG03 ,  5F051BA03 ,  5F051BA12 ,  5F051BA14 ,  5F051KA09
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (14)
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