Pat
J-GLOBAL ID：200903058651477143
IC測定用ソケット
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
船橋 國則
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994071416
Publication number (International publication number)：1995254468
Application date： Mar. 15, 1994
Publication date： Oct. 03, 1995
Summary：
【要約】【目的】 リード端子との接触不良に伴う部品交換費用を極力抑えるとともに、異種タイプICへの汎用性を向上させたIC測定用ソケットを提供する。【構成】 測定すべきIC8をテストボードを介してテスト用回路に電気的に接続するためのIC測定用ソケットであり、テストボード上に実装されるソケット本体2を備える。ソケット本体2の中央部にはIC受け台3が着脱可能に結合される。さらにソケット本体2にはIC受け台3の周縁部に隣接して測定子ホルダ4が着脱可能に結合され、この測定子ホルダ4はIC8のリード端子15に対応して配列された複数の測定子16を有する。
Claim (excerpt)：
測定すべきICをテストボードを介してテスト用回路に電気的に接続するためのIC測定用ソケットにおいて、前記テストボード上に実装されるソケット本体と、前記ソケット本体の略中央部に着脱可能に結合されたIC受け台と、前記ICのリード端子に対応して配列された複数の測定子を有し、前記IC受け台の周縁部に隣接して前記ソケット本体に着脱可能に結合された測定子ホルダとから成ることを特徴とするIC測定用ソケット。
IPC (5)：
H01R 33/76
, G01R 1/073
, G01R 31/26
, H01L 21/66
, H01L 23/32
