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J-GLOBAL ID：200903058663753880
温度伝導率の計測方法
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
渡辺 勤 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991304034
Publication number (International publication number)：1993119003
Application date： Oct. 23, 1991
Publication date： May. 14, 1993
Summary：
【要約】【目的】 物質の熱による影響から、物質の物性値の一つである温度伝導率を計測することによって、物質の非定常域における熱拡散の状況や状態を把握し、該物質の加熱や冷却を行うための形状や条件を設定したり、加熱、冷却のための基礎値を得ることを目的とする。【構成】 物質と熱的に接触する発熱体と二つの測温素子の温度差もしくは前記発熱体温度と発熱体から一定距離にある測温素子の温度との差を求め、該温度差の1/Nの値に達する時間から物質の温度伝導率を計測する。
Claim (excerpt)：
発熱体から異なる距離にある少なくとも二つの測温素子を物質内に配置し、発熱体を発熱せしめてそれら測温素子の温度差が一定温度差を保つようになったときの該温度差を求め、それら測温素子の温度差が発熱体の発熱開始から前記一定温度差の1/Nの値に到達するまでの時間から物質の温度伝導率を得ることを特徴とする温度伝導率の計測方法。
IPC (2)：
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