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J-GLOBAL ID:200903058676314729

有限要素法における応力解析の精度向上方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 森本 義弘
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1998055623
Publication number (International publication number):1999258073
Application date: Mar. 09, 1998
Publication date: Sep. 24, 1999
Summary:
【要約】【課題】 実測値を拘束条件として取り込むことにより、解の精度を高めるととに、解の精度の可否を一瞥して判断する。【解決手段】 構造物1の要素上に複数の節点を設定し、非使用状態で要素上の一対の節点N1,N2間における実距離Δxを測定し、使用状態で前記一対の節点N1,N2間に生起する実歪みεを歪みゲージで測定し、前記要素を有限要素モデルとして有限要素法により構造物に生起する応力を解析するに際し、前記要素の各節点N1,N2に対応する有限要素モデル上の各節点の変位をU1,U2として、次式ε=(U1-U2)/Δxを拘束条件とする。
Claim (excerpt):
構造物上に有限の大きさの要素を設定するとともに、この要素上に複数の節点を設定し、非使用状態で要素上の一対の節点N1,N2間における実距離Δxを測定し、使用状態で前記一対の節点N1,N2間に生起する実歪みεを歪みゲージで測定し、前記要素を有限要素モデルとして有限要素法により構造物に生起する応力を解析するに際し、前記要素の各節点N1,N2に対応する有限要素モデル上の各節点の変位をU1,U2として、次式ε=(U1-U2)/Δxを拘束条件とすることを特徴とする有限要素法における応力解析の精度向上方法。
IPC (2):
G01L 1/00 ,  G06F 17/13
FI (2):
G01L 1/00 Z ,  G06F 15/328
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (1)

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